[发明专利]一种具有叠栅结构的碳化硅MIS器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110817730.0 申请日: 2021-07-20
公开(公告)号: CN113871468A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 康俊勇;李光容;王伟平;吴志明;孔丽晶;吴雅苹;李煦 申请(专利权)人: 厦门大学;厦门大学九江研究院
主分类号: H01L29/51 分类号: H01L29/51;H01L21/04
代理公司: 北京纽乐康知识产权代理事务所(普通合伙) 11210 代理人: 秦月贞
地址: 361000 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种具有叠栅结构的碳化硅MIS器件及其制备方法,其器件结构包括至下而上依次设置的背电极、N+型4H‑SiC外延材料基片层、AlN与Al2O3堆叠的栅介质层、栅电极。本发明通过采用高介电常数的AlN与Al2O3材料结合为叠栅结构介质层,以氮等离子体对底层栅介质AlN进行表面钝化,实现了表面平整无重构,优化了底层栅介质与上层栅介质的界面连接,改善了碳化硅MIS器件的衬底和栅介质的界面特性,提高了载流子迁移率和临界击穿场强,最终提升器件性能。
搜索关键词: 一种 具有 结构 碳化硅 mis 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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