[发明专利]一种光学芯片测试装置

摘要

本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种光学芯片测试装置，包括底座，底座为L型结构，底座的侧壁上转动安装有转轴，转轴远离底座的一端固定安装有固定架，固定架上开设有贯穿固定架的插接槽，插接槽内插设有定位架，定位架上呈直线分布均匀开设有多个定位槽，定位槽的两侧内壁上均开设有滑槽，滑槽内均插设有若干芯片，滑槽的内壁上均呈直线分布均匀开设有多个凹槽，凹槽内均设置有弹簧压杆，弹簧压杆的一端均设置有压块，压块远离弹簧压杆的一侧均为圆弧形结构，弹簧压杆远离压块的一端均开设有倾斜面，定位架上并位于定位槽的两侧均匀插设有多个弹簧插杆。本发明可以同时对多个光学芯片进行快速的夹持定位。