[发明专利]一种光学芯片测试装置

说明书

本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种光学芯片测试装置，包括底座，底座为L型结构，底座的侧壁上转动安装有转轴，转轴远离底座的一端固定安装有固定架，固定架上开设有贯穿固定架的插接槽，插接槽内插设有定位架，定位架上呈直线分布均匀开设有多个定位槽，定位槽的两侧内壁上均开设有滑槽，滑槽内均插设有若干芯片，滑槽的内壁上均呈直线分布均匀开设有多个凹槽，凹槽内均设置有弹簧压杆，弹簧压杆的一端均设置有压块，压块远离弹簧压杆的一侧均为圆弧形结构，弹簧压杆远离压块的一端均开设有倾斜面，定位架上并位于定位槽的两侧均匀插设有多个弹簧插杆。本发明可以同时对多个光学芯片进行快速的夹持定位。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种光学芯片测试装置。

背景技术

光学芯片也叫半导体激光芯片，半导体激光芯片就是用来做半导体激光器的主要原件，是一种利用直接带隙半导体的载流子复合所产生的光受激辐射进行发光，增益后从而产生激光的主要原件。也就是说，半导体激光芯片本质就是一种半导体芯片，这种芯片的功能是用来产生激光的，所以叫半导体激光芯片。

现有的光学芯片在生产时，大都需要经过研磨抛光，而在研磨的过程中常常会因为操作不当，造成芯片研磨不到位或者研磨过度的现象，这直接影响了光学芯片的生产质量，因此，在光学芯片生产加工成型后，通常需要进行测试，对光学芯片的性能进行检测。在对光学芯片进行检测时，都需要先对光学芯片进行固定，而目前，大多数的检测装置都只能对单个芯片进行夹持和检测，检测效率低下，且在夹持的过程中容易使手指与光学芯片产生接触，影响光学芯片的检测效果，同时，当需要对光学芯片的两面都进行检测时，通常需要人工手动对光学芯片进行翻转并再次进行夹持固定，这进一步的降低了光学芯片的检测效率，给光学芯片的测试带来了不便。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种光学芯片测试装置，可以同时对多个光学芯片进行快速的夹持定位，便于检测，同时可以自动对夹持后的光学芯片进行翻转，进一步提高了光学芯片的检测效率，同时减少了人工与光学芯片之间的触碰，提高了光学芯片的检测效果。

为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案，一种光学芯片测试装置，包括底座，所述的底座为L型结构，所述底座的侧壁上转动安装有转轴，所述转轴远离底座的一端固定安装有固定架，所述固定架上开设有贯穿所述固定架的插接槽，所述插接槽内插设有定位架，所述定位架上呈直线分布均匀开设有多个定位槽，所述定位槽的两侧内壁上均开设有滑槽，所述定位槽内均插设有若干芯片，所述芯片的两侧分别插设在所述滑槽内，所述滑槽的内壁上均呈直线分布均匀开设有多个凹槽，所述凹槽内均水平设置有弹簧压杆，所述弹簧压杆的一端均设置有压块，所述压块远离所述弹簧压杆的一侧均为圆弧形结构，所述弹簧压杆远离所述压块的一端均开设有倾斜面，所述定位架上并位于所述定位槽的两侧均匀垂直插设有多个弹簧插杆，所述弹簧插杆分别与所述弹簧压杆一一对应，所述弹簧插杆插入所述定位架内的一端均开设有倾斜面并分别与对应设置的所述弹簧压杆开设有倾斜面的一端相接触，通过所述定位架可以同时对多个光学芯片进行夹持固定，配合所述固定架可以同时进行多个光学芯片的检测。

所述固定架的两侧均设置有连接块，所述连接块上均设置有两个电动伸缩杆，同一所述连接块上的所述电动伸缩杆互为反向设置并交错分布，两个所述连接块上的所述电动伸缩杆均两两对称设置，对称设置的所述电动伸缩杆的输出端设置有框型结构的压架，所述压架的内壁均呈直线分布设置有若干压杆，两个所述压架上的所述压杆分别一一对应，对应设置的所述压杆相互靠近的一侧均呈直线分布设置有多个固定块，对应设置的所述固定块相互靠近的一侧均设置有气囊，对应设置的所述固定块上的所述气囊相互交错分布，通过所述压架可以对夹持在所述定位架上的所述芯片进行分隔，避免在检测时相邻的芯片产生干扰。

作为本发明的一种优选技术方案，所述的底座的侧壁上开设有环形结构的连接槽，所述固定架靠近所述底座的一侧对称设置有弧形结构的连接块，所述连接块均转动安装在所述连接槽内，所述连接槽的内壁上对称开设有两个限位卡槽，所述连接块相互远离的一侧均插设有弹簧珠，所述弹簧珠分别与所述限位卡槽凹凸配合。