[发明专利]一种光学芯片测试装置

权利要求书

1.一种光学芯片测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述的底座(1)为L型结构，所述底座(1)的侧壁上转动安装有转轴(11)，所述转轴(11)远离底座(1)的一端固定安装有固定架(2)，所述固定架(2)上开设有贯穿所述固定架(2)的插接槽(21)，所述插接槽(21)内插设有定位架(3)，所述定位架(3)上呈直线分布均匀开设有多个定位槽(31)，所述定位槽(31)的两侧内壁上均开设有滑槽(32)，所述定位槽(31)内均插设有若干芯片(33)，所述芯片(33)的两侧分别插设在所述滑槽(32)内，所述滑槽(32)的内壁上均呈线分布均匀开设有多个凹槽(34)，所述凹槽(34)内均水平设置有弹簧压杆(35)，所述弹簧压杆(35)的一端均设置有压块(36)，所述压块(36)远离所述弹簧压杆(35)的一侧均为圆弧形结构，所述弹簧压杆(35)远离所述压块(36)的一端均开设有倾斜面，所述定位架(3)上并位于所述定位槽(31)的两侧均匀垂直插设有多个弹簧插杆(37)，所述弹簧插杆(37)分别与所述弹簧压杆(35)一一对应，所述弹簧插杆(37)插入所述定位架(3)内的一端均开设有倾斜面并分别与对应设置的所述弹簧压杆(35)开设有倾斜面的一端相接触；

所述固定架(2)的两侧均设置有连接块(22)，所述连接块(22)上均设置有两个电动伸缩杆(23)，同一所述连接块(22)上的所述电动伸缩杆(23)互为反向设置并交错分布，两个所述连接块(22)上的所述电动伸缩杆(23)均两两对称设置，对称设置的所述电动伸缩杆(23)的输出端设置有框型结构的压架(4)，所述压架(4)的内壁均呈直线分布设置有若干压杆(41)，两个所述压架(4)上的所述压杆(41)分别一一对应，对应设置的所述压杆(41)相互靠近的一侧均呈直线分布设置有多个固定块(42)，对应设置的所述固定块(42)相互靠近的一侧均设置有气囊(43)，对应设置的所述固定块(42)上的所述气囊(43)相互交错分布。

2.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的底座(1)的侧壁上开设有环形结构的连接槽(12)，所述固定架(2)靠近所述底座(1)的一侧对称设置有弧形结构的连接块(24)，所述弧形结构的 连接块(24)均转动安装在所述连接槽(12)内，所述连接槽(12)的内壁上对称开设有两个限位卡槽(13)，所述弧形结构的 连接块(24)相互远离的一侧均插设有弹簧珠(25)，所述弹簧珠(25)分别与所述限位卡槽(13)凹凸配合。

3.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的定位架(3)的两侧均设置有卡条(301)，所述插接槽(21)的两侧内壁上均开设有卡槽(211)，所述卡条(301)分别插设在对应设置的所述卡槽(211)内。

4.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的滑槽(32)的内壁上均呈直线分布转动安装有多个滚轴(321)。

5.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的凹槽(34)的一端均设置有橡胶材质的弹力带(341)，所述弹力带(341)的一侧分别与对应设置的所述压块(36)相接触。

6.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的底座(1)的一侧设置有旋转电机(14)，所述旋转电机(14)的输出轴固定安装在所述转轴(11)远离所述固定架(2)的一端。

7.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的压杆(41)相互靠近的一侧均呈直线分布设置有多个吸盘(44)，所述吸盘(44)分别与所述定位架(3)相接触。

8.根据权利要求1所述的一种光学芯片测试装置，其特征在于：所述的定位架(3)上并位于所述定位槽(31)的两侧均开设有弹簧槽(5)，所述弹簧槽(5)的内壁上均呈直线分布均匀设置有若干弹簧杆(51)，所述弹簧插杆(37)的外壁上均开设有固定槽(371)，所述弹簧槽(5)内均滑动安装有连动杆(52)，所述连动杆 (52)上均呈直线分布开设有若干通槽(53)，所述弹簧杆(51)的伸缩端分别贯穿对应设置的所述通槽(53)插设在对应设置的所述固定槽(371)内，所述弹簧杆(51)的伸缩端的外壁上均设置有限位块(54)，所述限位块(54)分别与所述连动杆(52)相接触。