[发明专利]一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置有效
| 申请号： | 202110751181.1 | 申请日： | 2021-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN113465519B | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 姚理荣;夏勇;龙啸云;徐思峻;潘刚伟;孙启龙;张成蛟 | 申请（专利权）人： | 南通大学 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;B25H1/00 |
| 代理公司： | 盐城海纳川知识产权代理事务所(普通合伙) 32503 | 代理人： | 解亚娇 |
| 地址： | 226000*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置，包括工作台，所述工作台的底部外壁设置有底框，且底框的底部内壁设置有数据分析仪，所述工作台的顶部外壁设置有安装板，且安装板的一侧外壁分别设置有起偏器和检偏器，所述工作台的顶部外壁开有安装槽，且安装槽的一侧内壁设置有第二步进电机，所述第二步进电机的输出轴一端设置有丝杆，且丝杆的外壁螺纹连接有滑块，所述滑块的顶部外壁设置有第一步进电机，且第一步进电机的输出轴一端设置有放置盘，所述工作台的顶部外壁设置有遮光机构。本发明使得所有检测点可以将纤维膜均匀覆盖，通过对比不同检测点处的纤维膜厚度，即可得出纳米纤维膜的厚度均匀性，使用十分方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 纳米 纤维 厚度 均匀 检测 装置 | ||
【主权项】：
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