[发明专利]一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置

说明书

本发明公开了一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置，包括工作台，所述工作台的底部外壁设置有底框，且底框的底部内壁设置有数据分析仪，所述工作台的顶部外壁设置有安装板，且安装板的一侧外壁分别设置有起偏器和检偏器，所述工作台的顶部外壁开有安装槽，且安装槽的一侧内壁设置有第二步进电机，所述第二步进电机的输出轴一端设置有丝杆，且丝杆的外壁螺纹连接有滑块，所述滑块的顶部外壁设置有第一步进电机，且第一步进电机的输出轴一端设置有放置盘，所述工作台的顶部外壁设置有遮光机构。本发明使得所有检测点可以将纤维膜均匀覆盖，通过对比不同检测点处的纤维膜厚度，即可得出纳米纤维膜的厚度均匀性，使用十分方便。

技术领域

本发明涉及纳米纤维膜技术领域，尤其涉及一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置。

背景技术

纳米纤维是指直径为纳米尺度而长度较大的具有一定长径比的线状材料，此外，将纳米颗粒填充到普通纤维中对其进行改性的纤维也称为纳米纤维，制造纳米纤维的方法有很多，如拉伸法、模板合成、自组装、微相分离、静电纺丝等，其中静电纺丝法以操作简单、适用范围广、生产效率相对较高等优点而被广泛应用。

目前，在纳米纤维膜生产过程中，为了保证纤维膜质量，需要抽样对纳米纤维膜的厚度进行检测，但是现有的检测装置仅可以对纳米纤维膜的厚度进行检测，无法对其厚度均匀性进行检测，因此，亟需设计一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置来解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置，包括工作台，所述工作台的底部外壁设置有底框，且底框的底部内壁设置有数据分析仪，所述工作台的顶部外壁设置有安装板，且安装板的一侧外壁分别设置有起偏器和检偏器，所述工作台的顶部外壁开有安装槽，且安装槽的一侧内壁设置有第二步进电机，所述第二步进电机的输出轴一端设置有丝杆，且丝杆的外壁螺纹连接有滑块，所述滑块的顶部外壁设置有第一步进电机，且第一步进电机的输出轴一端设置有放置盘，所述工作台的顶部外壁设置有遮光机构，所述底框上设置有固定机构。

作为本发明再进一步的方案：所述遮光机构包括遮光罩和立杆，所述立杆固定设置于工作台顶部外壁的四个拐角处，所述遮光罩的四周内壁均固定连接有活动板，所述活动板的顶部外壁开有滑孔，且滑孔的内壁和立杆的外壁滑动连接。

作为本发明再进一步的方案：所述遮光罩的顶部外壁固定连接有握把。

作为本发明再进一步的方案：所述立杆的顶端固定连接有铁板，所述活动板的顶部外壁固定连接有磁石。

作为本发明再进一步的方案：所述工作台的顶部外壁开有环槽,且环槽的内壁设置有密封垫圈，所述遮光罩的底端和密封垫圈的内壁相契合。

作为本发明再进一步的方案：所述固定机构包括侧板、螺纹筒、活动筒和吸盘，所述侧板固定设置于底框的四周外壁，所述侧板的顶部外壁开有安装口，且螺纹筒螺纹设置于安装口中，所述活动筒通过轴承转动设置于螺纹筒中，所述活动筒的顶部外壁开有螺纹孔，且螺纹孔的内壁螺纹连接有螺杆，所述螺杆的顶端固定连接有调节轮，且螺杆的底端固定连接有活塞板，所述吸盘设置于活动筒的底端。

作为本发明再进一步的方案：所述螺纹筒的两侧外壁均固定连接有握杆。

作为本发明再进一步的方案：所述底框的底部外壁设置有橡胶垫。

本发明的有益效果为：