[发明专利]一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置

权利要求书

1.一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)的底部外壁设置有底框(2)，且底框(2)的底部内壁设置有数据分析仪(3)，所述工作台(1)的顶部外壁设置有安装板，且安装板的一侧外壁分别设置有起偏器(13)和检偏器(14)，所述工作台(1)的顶部外壁开有安装槽(5)，且安装槽(5)的一侧内壁设置有第二步进电机(18)，所述第二步进电机(18)的输出轴一端设置有丝杆(17)，且丝杆(17)的外壁螺纹连接有滑块(4)，所述滑块(4)的顶部外壁设置有第一步进电机(16)，且第一步进电机(16)的输出轴一端设置有放置盘(15)，所述工作台(1)的顶部外壁设置有遮光机构，所述遮光机构包括遮光罩(11)和立杆(7)，所述立杆(7)固定设置于工作台(1)顶部外壁的四个拐角处，所述遮光罩(11)的四周内壁均固定连接有活动板(8)，所述活动板(8)的顶部外壁开有滑孔，且滑孔的内壁和立杆(7)的外壁滑动连接，所述底框(2)上设置有固定机构，所述固定机构包括侧板(19)、螺纹筒(20)、活动筒(21)和吸盘(22)，所述侧板(19)固定设置于底框(2)的四周外壁，所述侧板(19)的顶部外壁开有安装口，且螺纹筒(20)螺纹设置于安装口中，所述活动筒(21)通过轴承转动设置于螺纹筒(20)中，所述活动筒(21)的顶部外壁开有螺纹孔，且螺纹孔的内壁螺纹连接有螺杆(23)，所述螺杆(23)的顶端固定连接有调节轮(24)，且螺杆(23)的底端固定连接有活塞板(25)，所述吸盘(22)设置于活动筒(21)的底端。

2.根据权利要求1所述的一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述遮光罩(11)的顶部外壁固定连接有握把(12)。

3.根据权利要求2所述的一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述立杆(7)的顶端固定连接有铁板(10)，所述活动板(8)的顶部外壁固定连接有磁石(9)。

4.根据权利要求3所述的一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述工作台(1)的顶部外壁开有环槽,且环槽的内壁设置有密封垫圈(6)，所述遮光罩(11)的底端和密封垫圈(6)的内壁相契合。

5.根据权利要求1所述的一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述螺纹筒(20)的两侧外壁均固定连接有握杆(26)。

6.根据权利要求1所述的一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述底框(2)的底部外壁设置有橡胶垫(27)。