[发明专利]埋层终端结构及其制备方法有效
申请号: | 202110695201.8 | 申请日: | 2021-06-22 |
公开(公告)号: | CN113314600B | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
发明(设计)人: | 李伟聪;林泳浩;姜春亮;王雯沁 | 申请(专利权)人: | 珠海市浩辰半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/40 | 分类号: | H01L29/40;H01L29/06 |
代理公司: | 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 | 代理人: | 刘自丽 |
地址: | 519000 广东省珠海市高新*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请公开一种埋层终端结构及其制备方法,其中,埋层终端结构包括N‑型半导体漂移区,N‑型半导体漂移区包括P型半导体场限环、P‑型半导体埋层和N+型半导体场限环,P‑型半导体埋层中的掺杂离子的浓度小于P型半导体场限环中的掺杂离子的浓度;绝缘介质层,设于N‑型半导体漂移区的上表面,分别与P型半导体场限环的部分上表面、P‑型半导体埋层的部分上表面和N+型半导体场限环的部分上表面接触,与P‑型半导体埋层的接触区设有接触孔;第一场板,通过接触孔与P‑型半导体埋层接触。本申请可以使埋层终端结构在高温下不容易击穿,可靠性和稳定性更好。 | ||
搜索关键词: | 终端 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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