[发明专利]一种SET检测电路、方法和芯片有效

专利信息
申请号: 202110663180.1 申请日: 2021-06-15
公开(公告)号: CN113422603B 公开(公告)日: 2023-06-20
发明(设计)人: 史柱;赵雁鹏;杨博;王斌;蒋轶虎;刘文平 申请(专利权)人: 西安微电子技术研究所
主分类号: H03L7/08 分类号: H03L7/08
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 姚咏华
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种SET检测电路、方法和芯片,锁定检测模块输入端分别连接有clk0和clk360,锁定检测模块输出端连接有lock_l0;差分时钟判决电路的反相器和传输门的输入端分别连接有两个差分信号,两个差分信号为一对互补的差分信号,反相器和传输门的输出端连接异或门输入端,异或门输出端连接触发器的d端口;触发器的ck端口连接有clk0;触发器的rstb端口连接锁定检测模块输出端;触发器的q端口与与非门第一输入端连接,与非门的第二输入端连接有tie_high,与非门的输出端连接有lock_l1。既保留了常态电路中的锁定检测功能,还能够检测压控延迟线中出现的两种特殊的SET响应。
搜索关键词: 一种 set 检测 电路 方法 芯片
【主权项】:
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