[发明专利]遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110611426.0 | 申请日： | 2021-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN113052153B | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 田静国;王宇翔;屈洋旭;黄非;范磊;容俊;关元秀 | 申请（专利权）人： | 航天宏图信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 王丽莎 |
| 地址： | 100195 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：获取待检影像的影像数据，影像数据包括时间数据、空间数据和光谱参量；基于时间数据和空间数据，对待检影像与预设的第一参考样点集进行匹配，得到与待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集；基于光谱参量，对待检影像与第二参考样点集进行光谱匹配，得到与第二参考样点集光谱匹配的目标点；基于目标点与第二参考样点集之间的反射率相对误差，确定待检影像的真实性。本实施例能够从大范围的第一参考样点集中确定适用于当前地理位置和影像采集时间的第二参考样点集，实现大范围的应用，以及实现反射率影像的真实性检验。 | ||
| 搜索关键词： | 遥感 反射率 影像 检验 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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