[发明专利]遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种遥感反射率影像的检验方法，其特征在于，包括：

获取待检影像的影像数据，所述影像数据包括时间数据、空间数据和光谱参量；

基于所述时间数据和所述空间数据，对所述待检影像与预设的第一参考样点集进行匹配，得到与所述待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集；

基于所述光谱参量，对所述待检影像与所述第二参考样点集进行光谱匹配，得到与所述第二参考样点集光谱匹配的目标点；

基于所述目标点与所述第二参考样点集之间的反射率相对误差，确定所述待检影像的真实性；

其中，所述基于所述光谱参量，对所述待检影像与所述第二参考样点集进行光谱匹配，得到与所述第二参考样点集光谱匹配的目标点，包括：

对所述待检影像进行掩膜处理，得到第一影像；

基于所述光谱参量与所述第二参考样点集中各个波段的光谱响应函数，对所述第一影像与所述第二参考样点集进行波段间的光谱匹配，得到与所述第二参考样点集光谱匹配的第二影像；

基于所述第二参考样点集中的像元分辨率数据，对所述第二影像与所述第二参考样点集进行分辨率匹配，得到与所述第二参考样点集分辨率匹配的所述目标点。

2.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述基于所述时间数据和所述空间数据，将所述待检影像与预设的第一参考样点集进行匹配，得到与所述待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集，包括：

在所述第一参考样点集中，基于所述待检影像的空间数据进行地理分布检索，得到与所述待检影像在空间上匹配的第三参考样点集；

在所述第三参考样点集中，基于所述待检影像的时间数据进行时间检索，得到与所述待检影像在时间上和空间上均匹配的所述第二参考样点集。

3.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述基于所述时间数据和空间数据，将所述待检影像与预设的第一参考样点集进行匹配，得到与所述待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集之前，还包括：

分析所述待检影像的影像特性，所述影像特性包括光谱特性，空间特性和重访周期特性；

基于所述影像特性，构建用于检验所述待检影像真实性的第一参考样点集。

4.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述基于所述光谱参量与所述第二参考样点集中各个波段的光谱响应函数，对所述第一影像与所述第二参考样点集进行波段间的光谱匹配，得到与所述第二参考样点集光谱匹配的第二影像，包括：

根据所述第一影像的各波段中心波长与所述第二参考样点集中每个波段的光谱响应函数，确定目标数据，所述目标数据包含所述第一影像在目标波段范围内的各波段中心波长，以及与所述各波段中心波长对应的反射率值和光谱响应值；

对所述光谱响应值进行归一化处理，得到目标光谱响应值；

对所述目标光谱响应值和所述反射率值进行积分处理，得到所述第二影像。

5.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述基于所述第二参考样点集中的像元分辨率数据，对所述第二影像与所述第二参考样点集进行分辨率匹配，得到与所述第二参考样点集分辨率匹配的所述目标点，包括：

基于所述第二参考样点集中各个样点的坐标信息，确定各个所述样点在所述第二影像中的位置；

以所述样点在所述第二影像中的位置为中心，向外扩展若干个像素点，生成与所述第二参考样点集的像元分辨率数据相同的多个影像块；

对多个所述影像块进行均值处理，得到所述目标点。

6.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述第二参考样点集包括多个样点数据，所述基于所述目标点与所述第二参考样点集之间的反射率相对误差，确定所述待检影像的真实性，包括：

针对所述目标点的每个目标波段，计算所有所述目标点和所述样点数据之间的反射率平均误差；

对所有所述目标波段的所述反射率平均误差进行均值处理，得到所述目标点与所述第二参考样点集之间的所述反射率相对误差；

将所述反射率相对误差与预设误差阈值对比，确定所述待检影像的真实性。