[发明专利]遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110611426.0 申请日: 2021-06-02
公开(公告)号: CN113052153B 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 田静国;王宇翔;屈洋旭;黄非;范磊;容俊;关元秀 申请(专利权)人: 航天宏图信息技术股份有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/62
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 王丽莎
地址: 100195 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 遥感 反射率 影像 检验 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

本申请提供一种遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:获取待检影像的影像数据,影像数据包括时间数据、空间数据和光谱参量;基于时间数据和空间数据,对待检影像与预设的第一参考样点集进行匹配,得到与待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集;基于光谱参量,对待检影像与第二参考样点集进行光谱匹配,得到与第二参考样点集光谱匹配的目标点;基于目标点与第二参考样点集之间的反射率相对误差,确定待检影像的真实性。本实施例能够从大范围的第一参考样点集中确定适用于当前地理位置和影像采集时间的第二参考样点集,实现大范围的应用,以及实现反射率影像的真实性检验。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域,具体而言,涉及一种遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

对叶面积指数、温度和植被覆盖度等遥感产品进行真实性检验,评价遥感产品的精度和不确定性,是提高遥感产品定量化生产水平,从而提高遥感应用的精度,扩展其应用范围的重要手段。目前,遥感产品的真实性检验方法主要为直接检验和交叉检验。

直接检验通过将地面实测数据作为参数数据对遥感产品进行检验,但是地面实测数据的获取难度大,覆盖范围有限,而且计算方式复杂,不适用于快速、大范围、长时间的工程化应用。交叉检验通过将已知精度的遥感产品作为参数数据对待检遥感产品进行检验,但是该方法主要针对于叶面积指数、温度和植被覆盖度等,而没有针对于高光谱反射率,并且该方法主要为区域尺度试验,不利于准确、大范围的工程化应用。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种遥感反射率影像的检验方法、装置、电子设备及存储介质,旨在解决当前针对高光谱反射率产品的真实性检验方法存在适用范围小和准确性低等局限性的问题。

第一方面,本申请实施例提供了一种遥感反射率影像的检验方法,包括:

获取待检影像的影像数据,影像数据包括时间数据、空间数据和光谱参量;

基于时间数据和空间数据,对待检影像与预设的第一参考样点集进行匹配,得到与待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集;

基于光谱参量,对待检影像与第二参考样点集进行光谱匹配,得到与第二参考样点集光谱匹配的目标点;

基于目标点与第二参考样点集之间的反射率相对误差,确定待检影像的真实性。

在本实施例中,通过时间数据和空间数据,对待检影像与预设的第一参考样点集进行匹配,得到与待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集,从而能够从大范围的第一参考样点集中确定适用于当前地理位置和影像采集时间的第二参考样点集,也就是说,在任一时间和/或地理位置的反射率影像均能够从第一参考样点集中得到第二参考样点集,实现反射率影像检验方法的大范围应用;由于相比叶面积指数、温度和植被覆盖度等遥感产品,高光谱遥感反射率影像的光谱信息更多,利用常规的检验方法无法保证其真实性检验的准确性,所以本实施例基于光谱参量,对待检影像与第二参考样点集进行光谱匹配,得到与第二参考样点集光谱匹配的目标点,光谱匹配能够有效降低高光谱遥感反射率影像的光谱冗余,使得高光谱遥感反射率影像和第二参考样点集在光谱尺度上相一致,从而提高真实性检验的检验准确度;最后基于目标点与第二参考样点集之间的反射率相对误差,确定待检影像的真实性,本申请从时间、空间和光谱等多个尺度对高光谱遥感反射率影像进行处理,实现高光谱遥感反射率影像的大范围应用和有效提高准确度。

在一实施例中,基于时间数据和空间数据,将待检影像与预设的第一参考样点集进行匹配,得到与待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集,包括:

在第一参考样点集中,基于待检影像的空间数据进行地理分布检索,得到与待检影像在空间上匹配的第三参考样点集;

在第三参考样点集中,基于待检影像的时间数据进行时间检索,得到与待检影像在时间上和空间上均匹配的第二参考样点集。

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