[发明专利]半导体封装件及制造方法在审
| 申请号： | 202110534715.5 | 申请日： | 2021-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN114156241A | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 朴辰遇;李种昊;高永权 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H01L23/31 | 分类号： | H01L23/31;H01L23/18 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 李娜;王占杰 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了半导体封装件和用于制造半导体封装件的方法。该方法包括：在半导体芯片的侧表面上形成模制构件；使用粘合剂将载体基板附接到模制构件和半导体芯片的上表面；使用具有第一刀片宽度的第一刀片切掉载体基板的选定部分和粘合剂的位于载体基板的选定部分下面的部分，并使用第一刀片部分地切入到模制构件的上表面中以形成第一切割槽，其中载体基板的选定部分设置在模制构件的位于相邻的半导体芯片之间的部分上方；使用具有比第一刀片宽度窄的第二刀片宽度的第二刀片切穿模制构件的下表面以形成第二切割槽，其中第一切割槽和第二切割槽的组合将均包括由载体基板的切割部分支撑的半导体芯片的封装结构分隔开；将封装结构接合到封装基板的上表面。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 封装 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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