[发明专利]包括非易失性存储器装置的存储器系统及其擦除方法在审

专利信息
申请号: 202110534260.7 申请日: 2021-05-17
公开(公告)号: CN114078544A 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 孙铭浩;郑原宅;南釜一 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34;G11C29/50
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 史泉;张川绪
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了包括非易失性存储器装置的存储器系统及其擦除方法。一种包括非易失性存储器装置和存储器控制器的存储器系统的故障检测方法,所述故障检测方法包括:由存储器控制器对连接到传输晶体管的字线的擦除的数量进行计数;当擦除的数量达到参考值时,由存储器控制器发出第一擦除命令;响应于第一擦除命令,由非易失性存储器装置施加第一电压,第一电压使得传输晶体管的栅极‑源极电位差具有第一值;在施加第一电压之后,由存储器控制器检测所述字线中的漏电流;以及当由漏电流引起的漏电压大于第一阈值时,由存储器控制器将所述字线确定为故障。
搜索关键词: 包括 非易失性存储器 装置 存储器 系统 及其 擦除 方法
【主权项】:
暂无信息
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