[发明专利]用于测试集成电路的方法及系统在审
| 申请号： | 202110529993.1 | 申请日： | 2021-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN113687208A | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 撒母耳·夏布尤;安东尼·莫瑞;尚帕斯卡·玛朗宁奇 | 申请（专利权）人： | 艾迪米亚星晶片公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 | 代理人： | 刘卓然 |
| 地址： | 法国梅*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测试集成电路的方法及系统，该集成电路包括逻辑门、逻辑触发器及可重写存储器，该集成电路包括内部频率，该集成电路可配置成处于称为扫描链模式的操作模式中。依据本发明：将该集成电路置于该扫描链模式中；用隔离机构使该可重写存储器与该逻辑门及该逻辑触发器隔离；借由外部频率对该隔离机构进行定时(Clk)；改变该外部频率的周期性；读取(300)该可重写存储器的内容，并将其与数值进行比较；根据该比较判定(300)该可重写存储器的访问时间。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 集成电路 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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