[发明专利]一种原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法有效
| 申请号： | 202110515631.7 | 申请日： | 2021-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN113376188B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 张静;刘聚哲;章红宇;殷子;储胜启;安鹏飞;黄换;郭林 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所;北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N23/085 | 分类号： | G01N23/085;G01N23/223;G01N27/30;G01N27/48 |
| 代理公司： | 北京睿阳联合知识产权代理有限公司 11758 | 代理人： | 杨生平;王朋飞 |
| 地址： | 100049 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种原位X‑射线吸收谱测量系统及测量方法；测量系统包括：电化学工作站、PC机以及QXAFS电子学设备；PC机分别与电化学工作站和QXAFS电子学设备连接，用于控制电化学测试和X‑射线吸收谱测试同步进行；电化学工作站连接三电极电化学系统，其包括参比电极、对电极和工作电极，所述电极均置于含有电解质溶液的电化学反应池内；工作电极上涂覆有测试样品；QXAFS电子学设备连接有X‑射线发射装置以及X‑射线探测器；X‑射线发射装置朝向工作电极上的测试样品发射X‑射线；X‑射线探测器用于接收测试样品被激发的X‑射线荧光信号。通过该系统可以实现样品在同一条件下的多模式测试，将样品的结构与性能一一对应。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 原位 射线 吸收 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
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