[发明专利]测试电路系统的方法及相关电路系统在审
| 申请号： | 202110494515.1 | 申请日： | 2021-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN115308579A | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 卢彦儒 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 王再芊;毕长生 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 电路系统包括第一电路、第二电路及比较器。第二电路与第一电路具有实质相同的结构。在测试模式中，电路系统使第一电路及第二电路同步执行实质相同的测试操作。在执行测试操作的过程中，比较器持续比较第一电路内部产生的第一中间信号及第二电路内部产生的与第一中间信号相对应的第二中间信号。在第一中间信号与第二中间信号不同时，电路系统使第一电路及第二电路停止执行测试操作，并使第一电路及第二电路执行扫描转储操作以记录第一电路所传输的信号及第二电路所传输的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 系统 方法 相关 | ||
【主权项】：
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