[发明专利]测试电路系统的方法及相关电路系统

说明书

电路系统包括第一电路、第二电路及比较器。第二电路与第一电路具有实质相同的结构。在测试模式中，电路系统使第一电路及第二电路同步执行实质相同的测试操作。在执行测试操作的过程中，比较器持续比较第一电路内部产生的第一中间信号及第二电路内部产生的与第一中间信号相对应的第二中间信号。在第一中间信号与第二中间信号不同时，电路系统使第一电路及第二电路停止执行测试操作，并使第一电路及第二电路执行扫描转储操作以记录第一电路所传输的信号及第二电路所传输的信号。

技术领域

本发明内容涉及一种测试电路系统的方法，特别涉及一种在电路系统产生错误时，能够记录电路信号的方法及相关的电路系统。

背景技术

一般来说，为了维持芯片的品质，不论是在芯片出货前或是在客户退货时，都需要对芯片进行测试，并在发现因制造缺陷造成的错误时，分析错误出现的原因，从而改进电路的设计及/或芯片的制程。现有技术中，常会在芯片的所有寄存器中设置扫描链(scanchain)，并在进行测试发现芯片运作不正常时，通过扫描链将芯片的寄存器数值读出，以进一步地分析错误发生的原因。

然而，在发现芯片出现错误到实际启动扫描链以将芯片的寄存器数值读出的两个阶段之间常会有时间差，从而导致扫描链所读出的数值常常是芯片发生错误许久以后才产生的数值，而并不是芯片发生错误的当下所产生的数值，因此难以有效地据此判断发生错误的原因。在此情况下，如何提升芯片的测试效率便成为了本领域亟待解决的问题。

发明内容

本发明的一实施例涉及一种电路系统。电路系统包括第一电路、第二电路及比较器。第一电路用以执行至少一应用操作。第二电路与该第一电路具有相同的结构，用以执行该至少一应用操作。在测试模式中，该第一电路及该第二电路同步执行相同的一测试操作，在该第一电路及该第二电路同步执行该测试操作的过程中，该比较器用以比较该第一电路内部产生的一第一中间信号及该第二电路内部产生的与该第一中间信号相对应的一第二中间信号，及在该比较器判断该第一中间信号与该第二中间信号不同时，该第一电路及该第二电路停止执行该测试操作，并使该第一电路及该第二电路执行一扫描转储操作以获取该第一电路当下产生的多个第一传输信号及该第二电路当下产生的多个第二传输信号。

本发明的另一实施例涉及一种测试电路系统的方法，其中该测试电路系统包括一第一电路及一第二电路，该第一电路及该第二电路具有相同的结构。该方法包括使该第一电路及该第二电路同步执行相同的一测试操作，在该第一电路及该第二电路同步执行该测试操作的过程中，比较该第一电路内部产生的一第一中间信号及该第二电路内部产生的与该第一中间信号相对应的一第二中间信号，在该第一中间信号与该第二中间信号不同时，使该第一电路及该第二电路停止执行该测试操作，以及在该第一电路及该第二电路停止执行该测试操作之后，使该第一电路及该第二电路执行一扫描转储操作以获取该第一电路当下产生的多个第一传输信号及该第二电路当下产生的多个第二传输信号。

附图说明

图1是本发明一实施例的电路系统的示意图。

图2是本发明中测试图1的电路系统的方法流程图。

图3是本发明另一实施例的电路系统的示意图。

图4是本发明中测试图3的电路系统的方法流程图。

具体实施方式

图1是本发明一实施例的电路系统100的示意图。电路系统100可包括第一电路110A、第二电路110B及比较器120。第一电路110A可以用来执行电路系统100的至少一应用操作，例如但不限于对电路系统100中的存储器进行读取或写入及执行存储器中所存储的程序并进行对应的操作及运算。此外，在本实施例中，第二电路110B与第一电路110A具有实质相同的结构，并且可以执行实质相同的至少一应用操作。举例来说，电路系统100可以是包括多个电路的单芯片，而第一电路110A及第二电路110B可以是实质相同的处理器或运算单元，例如但不限于为中央处理器、图形处理器及以太网控制器。在某些实施例中，第二电路110B与第一电路110A具有完全相同的电路布局。