[发明专利]通过考虑单元间时序进行的单元感知缺陷特性化在审
申请号: | 202110473203.2 | 申请日: | 2021-04-29 |
公开(公告)号: | CN113569510A | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | R·郭;E·吉兹达尔斯基;X·蔡 | 申请(专利权)人: | 新思科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/3308 | 分类号: | G06F30/3308 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 章蕾 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开通过考虑单元间时序进行的单元感知缺陷特性化。还公开一种确定是否可在用于设计集成电路的标准库单元中检测到缺陷的方法及设备。生成缺陷检测表,其指示是否可使用输入逻辑状态的特定组合且在不同的负载条件下检测到特定缺陷。合并结果以针对输入及输出逻辑状态的每一组合提供单个度量,其指示每一缺陷的三种可能结果中的一者:(1)是否可在所有负载条件下检测到所述缺陷,(2)是否仅可在一些负载条件下检测到所述缺陷;或(3)是否无论所述负载条件为何,都无法针对输入逻辑状态的所述特定组合检测到所述缺陷。 | ||
搜索关键词: | 通过 考虑 单元 时序 进行 感知 缺陷 特性 | ||
【主权项】:
暂无信息
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