[发明专利]一种超低方阻及低反射率导电膜及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 202110344692.1 申请日: 2021-03-31
公开(公告)号: CN113096852B 公开(公告)日: 2022-10-21
发明(设计)人: 程武;郑建万;黄永祥;董剑;程志敏;师长明 申请(专利权)人: 宜昌南玻显示器件有限公司;中国南玻集团股份有限公司
主分类号: H01B5/14 分类号: H01B5/14;H01B13/00
代理公司: 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人: 成钢
地址: 443000 湖北省宜*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种超低方阻及低反射率导电膜,该导电膜具体结构包括由下至上设置的基材层、有机硅预涂层、无机物层、导电功能层、黑化层和保护层;其中无机物层为硅或者氧化物,导电功能层为铜或者铜合金层;黑化层为铜或者铜合金的氧化物、碳化物或氮化物;保护层为纳米级氧化物。本发明公开的导电膜可实现方阻低于0.1Ω/□,波长550nm时表面反射率低于15%,且导电层对于基材的附着力达到JIS K 5600标准≥4B。该产品可以应用在超大尺寸触控产品上,同时具有好的消影效果。
搜索关键词: 一种 超低方阻 反射率 导电 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
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