[发明专利]一种显微分光光度计的载片治具及透镜的多点测试方法在审

专利信息
申请号: 202110322280.8 申请日: 2021-03-25
公开(公告)号: CN113049510A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 战永刚;陈合金;冯红涛;战捷;尹强 申请(专利权)人: 深圳市三束镀膜技术有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/01
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 刘曰莹
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种显微分光光度计的载片治具及透镜的多点测试方法,所述载片治具包括:底座、X轴转动部、Z轴转动部和镜片夹具,其中,所述X轴转动部包括:转动块和两第一紧固件,所述转动块上设有一Z向的通孔;所述底座上设有两支撑架,两第一紧固件可将所述转动块锁紧于两支撑架之间;所述Z轴转动部包括:转动轴、载片台和两第二紧固件,所述载片台设于所述转动轴上,所述转动轴可转动地置于所述Z向通孔内,两第二紧固件穿过所述转动块可将所述Z轴转动部锁紧于所述转动块上;所述镜片夹具卡设于所述载片台上。本发明的载片治具及测试方法使显微分光光度计能够测试任意曲率透镜的任意点的的反射光谱,且测试精度高。
搜索关键词: 一种 显微 分光 光度计 载片治具 透镜 多点 测试 方法
【主权项】:
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