[发明专利]一种显微分光光度计的载片治具及透镜的多点测试方法

说明书

本发明公开了一种显微分光光度计的载片治具及透镜的多点测试方法，所述载片治具包括：底座、X轴转动部、Z轴转动部和镜片夹具，其中，所述X轴转动部包括：转动块和两第一紧固件，所述转动块上设有一Z向的通孔；所述底座上设有两支撑架，两第一紧固件可将所述转动块锁紧于两支撑架之间；所述Z轴转动部包括：转动轴、载片台和两第二紧固件，所述载片台设于所述转动轴上，所述转动轴可转动地置于所述Z向通孔内，两第二紧固件穿过所述转动块可将所述Z轴转动部锁紧于所述转动块上；所述镜片夹具卡设于所述载片台上。本发明的载片治具及测试方法使显微分光光度计能够测试任意曲率透镜的任意点的的反射光谱，且测试精度高。

技术领域

本发明涉及光谱测量仪器及光学薄膜测试技术技术领域，尤其涉及一种显微分光光度计的载片治具及透镜的多点测试方法。

背景技术

镀有减反射膜的微型摄像头的透镜一般用显微分光光度计来测试其分光光谱。市场上现有的显微分光光度计，其载片平台都只能前后、上下、左右平移，而测试光束也只能自上而下地垂直入射。要想测试透镜某个点的光谱数据，必须设法人工倾斜镜片并固定住，工作异常繁杂、耗时，且测试精度低，难以满足高精度测量的要求。且大曲率透镜镀膜容易产生镜片周边膜厚不均匀(俗称“阴阳脸”)的现象，所以在工艺实验中，需要反复测试镜片边缘不同位置的光谱，现有的载片平台难以满足大量高精度测量的需求。

因此，设计一种显微分光光度计的载片治具，能够测试任一曲率透镜的任意点的反射光谱，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

为解决以上技术问题，本发明提供一种显微分光光度计的载片治具及透镜的多点测试方法。本发明的显微分光光度计的载片治具可方便地测试相同半径的一周上不同位置的测试点的反射光谱曲线，从而使显微分光光度计能够测试任意曲率透镜的任意位置的反射光谱。解决了现有技术中需人工倾斜镜片并固定，再进行测量的难题，提高了测量的精密度。本发明的技术方案如下：所述显微分光光度计的载片治具包括：底座、X轴转动部、Z轴转动部和镜片夹具，其中，

所述X轴转动部包括：转动块和两紧固件，所述转动块上设有Z向的通孔、X向的螺纹通孔和Y向的螺纹通孔；

所述底座上设有两支撑架，两第一紧固件通过X向的螺纹通孔将所述X轴转动块锁紧于两支撑架之间；

所述Z轴转动部包括：转动轴、载片台和两第二紧固件，所述载片台设于所述转动轴上，所述转动轴可转动地设于所述Z向通孔内，两第二紧固件通过Z向的螺纹通孔将所述Z轴转动部锁紧于所述X轴转动块上；所述镜片夹具卡设于所述载片台上。

进一步地，所述Z轴转动部还包括一转盘，所述转盘固定于所述载片台的下方，所述转盘的直径大于所述载片台的直径。

进一步地，所述转动轴上还横向设有一圈凹槽，所述凹槽对应所述第二紧固件设置。

进一步地，两所述支撑架的顶面上沿X轴方向各设有第一指示线，所述转动块的与两支撑架相对的两面上第二指示线，所述第一指示线和所述第二指示线相配合指示所述转动块的转动角度。

进一步地，所述转动块的顶面上设有第三刻度线，所述转盘上设有第四刻度线，所述第三刻度线和所述第四刻度线相配合指示所述转动轴的转动角度。

进一步地，所述镜片夹具包括：底板、多个弹性夹和多个限位夹，每一所述弹性夹具有向内弯曲的弧度，每一所述弹性夹一端设于所述底板上，另一端延伸至所述底板下方，每一所述限位卡一端设有卡扣，每一所述限位卡固定于所述底板的边缘处，每一所述卡扣朝向所述底板的中心设置。

进一步地，所述卡扣为一弹性件。

本发明还包括一种透镜的多点测试方法，其提供给以上所述的显微分光光度计的载片治具完成，具体包括以下步骤：

步骤S10、调整所述X轴转动部和所述Z轴转动部处于初始状态；