[发明专利]一种显微分光光度计的载片治具及透镜的多点测试方法在审

专利信息
申请号: 202110322280.8 申请日: 2021-03-25
公开(公告)号: CN113049510A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 战永刚;陈合金;冯红涛;战捷;尹强 申请(专利权)人: 深圳市三束镀膜技术有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/01
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 刘曰莹
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 显微 分光 光度计 载片治具 透镜 多点 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种显微分光光度计的载片治具,其特征在于,包括:底座、X轴转动部、Z轴转动部和镜片夹具,其中,

所述X轴转动部包括:转动块和两第一紧固件,所述转动块上设有一Z向的通孔;

所述底座上设有两支撑架,两第一紧固件可将所述转动块锁紧于两支撑架之间;

所述Z轴转动部包括:转动轴、载片台和两第二紧固件,所述载片台设于所述转动轴上,所述转动轴可转动地设于所述Z向通孔内,两第二紧固件穿过所述转动块可将所述Z轴转动部锁紧于所述转动块上;所述镜片夹具卡设于所述载片台上。

2.根据权利要求1所述的显微分光光度计的载片治具,其特征在于,所述Z轴转动部还包括一转盘,所述转盘固定于所述载片台的下方,所述转盘的直径大于所述载片台的直径。

3.根据权利要求1或2所述的显微分光光度计的载片治具,其特征在于,所述转动轴上还横向设有一圈凹槽,所述凹槽对应所述第二紧固件设置。

4.根据权利要求1所述的显微分光光度计的载片治具,其特征在于,两所述支撑架的顶面上沿X轴方向各设有第一指示线,所述转动块的与两支撑架相对的两面上设有第二指示线,所述第一指示线和所述第二指示线相配合指示所述转动块的转动角度。

5.根据权利要求2所述的显微分光光度计的载片治具,其特征在于,所述转动块的顶面上沿X轴设有第三刻度线,所述转盘上设有第四刻度线,所述第三刻度线和所述第四刻度线相配合指示所述转动轴的转动角度。

6.根据权利要求1所述的显微分光光度计的载片治具,其特征在于,所述镜片夹具包括:底板、多个弹性夹和多个限位夹,每一所述弹性夹具有向内弯曲的弧度,每一所述弹性夹一端设于所述底板上,另一端延伸至所述底板下方,每一所述限位夹一端设有卡扣,每一所述限位夹固定于所述底板的边缘处,每一所述卡扣朝向所述底板的中心设置。

7.根据权利要求6所述的显微分光光度计的载片治具,其特征在于,至少一所述卡扣为一弹性件。

8.权利要求1所述的显微分光光度计的载片治具,其特征在于,所述第一紧固件和所述第二紧固件均为紧固螺钉。

9.一种透镜的多点测试方法,其特征在于,通过权利要求1-8任一项所述的显微分光光度计的载片治具完成,包括以下步骤:

步骤S10、调整所述X轴转动部和所述Z轴转动部处于初始状态;

步骤S20、将透镜安装于镜片夹具上,测试C点的反射光谱;

步骤S30、选定透镜上的一测试点A点,调整转动块使透镜表面该点处的法线与测试光线平行,固定转动块;

S40、移动载片治具,使A点处于测试光线的光斑上,测试A点的反射光谱;

S50、调整转动轴,使透镜上B点处于测试光线的光斑上,测试B点的反射光谱。

10.根据权利要求9所述的显微分光光度计的载片治具,其特征在于,还包括:

步骤S60、重复步骤S50,依次测试多个与A点和B点处于同一圆周上的多个点的反射光谱。

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