[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202110284822.7 申请日: 2021-03-17
公开(公告)号: CN113451511A 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 沈香谷;陈殿豪 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L49/02 分类号: H01L49/02
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 聂慧荃;闫华
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本公开实施例提供一种半导体装置。半导体装置包括接点结构、第一钝化层、底导体板层、第二介电层、中间导体板层、第三介电层、顶导体板层及第二钝化层。接点结构位于第一介电层中;第一钝化层位于接点结构上;底导体板层位于第一钝化层上,且底导体板层包括多个第一子层;第二介电层位于底导体板层上;中间导体板层位于第二介电层上,且中间导体板层包括多个第二子层;第三介电层位于中间导体板层上;顶导体板层位于第三介电层上,且顶导体板层包括多个第三子层;第二钝化层位于顶导体板层上。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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