[发明专利]一种检测密封圈缺陷的方法在审
| 申请号： | 202110279191.X | 申请日： | 2021-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN113008548A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 夏小波 | 申请（专利权）人： | 厦门沪熠铭电子工业有限公司 |
| 主分类号： | G01M13/005 | 分类号： | G01M13/005;G01M3/00 |
| 代理公司： | 北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825 | 代理人： | 田江飞 |
| 地址： | 361100 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及密封圈生产检验技术领域，尤其涉及一种检测密封圈缺陷的方法，S1、将检测基座平置，再将待检测的密封圈置于检测基座的检测口处；S2、分别按下上下两侧的开关，令两侧的定位座均调至与密封圈相接触的位置，以活动销的端部露出定位座外2cm为准；S3、按下按钮，启动装置，并手动原地转动密封圈，对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况，当出现问题时，活动销出现上下移动的情况，此时，指示灯闪烁，反之，指示灯不闪烁，即若指示灯出现了闪烁现象，则说明此密封圈存在缺陷。本发明通过设计检测基座来对密封圈的表面进行检测，以判定其表面是否存在多料或少料的问题，能够有效地提高检测质量及检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 密封圈 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
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