[发明专利]一种检测密封圈缺陷的方法

说明书

本发明涉及密封圈生产检验技术领域，尤其涉及一种检测密封圈缺陷的方法，S1、将检测基座平置，再将待检测的密封圈置于检测基座的检测口处；S2、分别按下上下两侧的开关，令两侧的定位座均调至与密封圈相接触的位置，以活动销的端部露出定位座外2cm为准；S3、按下按钮，启动装置，并手动原地转动密封圈，对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况，当出现问题时，活动销出现上下移动的情况，此时，指示灯闪烁，反之，指示灯不闪烁，即若指示灯出现了闪烁现象，则说明此密封圈存在缺陷。本发明通过设计检测基座来对密封圈的表面进行检测，以判定其表面是否存在多料或少料的问题，能够有效地提高检测质量及检测效率。

技术领域

本发明涉及密封圈生产检验技术领域，尤其涉及一种检测密封圈缺陷的方法。

背景技术

密封圈材料的选择对其密封性能和使用寿命有着重要意义，材料的性能直接影响密封圈的使用性能。常见的密封圈类型有NBR丁腈橡胶密封圈、HNBR氢化丁腈橡胶密封圈、SIL硅橡胶密封圈、FLS氟硅橡胶密封圈以及CR氯丁橡胶密封圈等。

在密封圈的生产过程中，由于注塑过程中的不当因素，使得密封圈出现多料或少料的现象，而影响了密封圈成品的质量，因此，我们提出了一种检测密封圈缺陷的方法用于解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种检测密封圈缺陷的方法。

一种检测密封圈缺陷的装置，包括检测基座，所述检测基座上开设有检测口，检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座，定位座内开设有空腔，空腔内通过弹簧活动设有多组活动销，活动销的两侧侧壁上均焊有滑块，滑块滑动在导杆上，导杆焊接在空腔的内壁之间，并且滑块的上表面嵌有光敏二极管，与光敏二极管相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管。

优选的，所述检测基座上设有两个开关、一个指示灯以及一个按钮。

优选的，所述定位座呈“U”型结构且其侧壁与电动推杆的活动端相连接固定。

优选的，所述活动销的一端端部呈尖状设置且为球体结构。

优选的，所述指示灯与光敏二极管之间通过电性连接，且按钮与发光二极管之间也通过电性连接。

一种检测密封圈缺陷的方法，包括以下步骤：

S1、将检测基座平置，再将待检测的密封圈置于检测基座的检测口处；

S2、分别按下上下两侧的开关，令两侧的定位座均调至与密封圈相接触的位置，以活动销的端部露出定位座外2cm为准；

S3、按下按钮，启动装置，并手动原地转动密封圈，对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况，当出现问题时，活动销出现上下移动的情况，此时，指示灯闪烁，反之，指示灯不闪烁，即若指示灯出现了闪烁现象，则说明此密封圈存在缺陷。

相比于现有技术，本发明的有益效果是：

本发明通过设计一组检测基座，将密封圈置于其中，通过定位座与密封圈的接触来对其进行定位，再由工人转动密封圈，使得活动销不断地对密封圈的表面进行检测，以判定其表面是否存在多料或少料的问题，能够有效地提高检测质量及检测效率。

附图说明

图1为本发明一种检测密封圈缺陷的方法所用检测基座的结构示意图；

图2为图1中的定位座及其内部活动销连接示意图；

图3为图2中局部A放大结构示意图。

图中：1检测基座、11开关、12指示灯、13按钮、2密封圈、3定位座、31导杆、4活动销、41滑块、5发光二极管、6光敏二极管。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明作进一步解说。