[发明专利]一种检测密封圈缺陷的方法在审

专利信息
申请号: 202110279191.X 申请日: 2021-03-16
公开(公告)号: CN113008548A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 夏小波 申请(专利权)人: 厦门沪熠铭电子工业有限公司
主分类号: G01M13/005 分类号: G01M13/005;G01M3/00
代理公司: 北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825 代理人: 田江飞
地址: 361100 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 密封圈 缺陷 方法
【权利要求书】:

1.一种检测密封圈缺陷的装置,包括检测基座(1),其特征在于,所述检测基座(1)上开设有检测口,检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座(3),定位座(3)内开设有空腔,空腔内通过弹簧活动设有多组活动销(4),活动销(4)的两侧侧壁上均焊有滑块(41),滑块(41)滑动在导杆(31)上,导杆(31)焊接在空腔的内壁之间,并且滑块(41)的上表面嵌有光敏二极管(6),与光敏二极管(6)相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管(5)。

2.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述检测基座(1)上设有两个开关(11)、一个指示灯(12)以及一个按钮(13)。

3.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述定位座(3)呈“U”型结构且其侧壁与电动推杆的活动端相连接固定。

4.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述活动销(4)的一端端部呈尖状设置且为球体结构。

5.根据权利要求2所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述指示灯(12)与光敏二极管(6)之间通过电性连接,且按钮(13)与发光二极管(5)之间也通过电性连接。

6.一种检测密封圈缺陷的方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、将检测基座(1)平置,再将待检测的密封圈(2)置于检测基座(1)的检测口处;

S2、分别按下上下两侧的开关(11),令两侧的定位座(3)均调至与密封圈(2)相接触的位置,以活动销(4)的端部露出定位座(3)外2cm为准;

S3、按下按钮(13),启动装置,并手动原地转动密封圈(2),对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况,当出现问题时,活动销(4)出现上下移动的情况,此时,指示灯(12)闪烁,反之,指示灯(12)不闪烁,即若指示灯(12)出现了闪烁现象,则说明此密封圈(2)存在缺陷。

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