[发明专利]一种检测密封圈缺陷的方法在审
| 申请号: | 202110279191.X | 申请日: | 2021-03-16 |
| 公开(公告)号: | CN113008548A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
| 发明(设计)人: | 夏小波 | 申请(专利权)人: | 厦门沪熠铭电子工业有限公司 |
| 主分类号: | G01M13/005 | 分类号: | G01M13/005;G01M3/00 |
| 代理公司: | 北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825 | 代理人: | 田江飞 |
| 地址: | 361100 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 检测 密封圈 缺陷 方法 | ||
1.一种检测密封圈缺陷的装置,包括检测基座(1),其特征在于,所述检测基座(1)上开设有检测口,检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座(3),定位座(3)内开设有空腔,空腔内通过弹簧活动设有多组活动销(4),活动销(4)的两侧侧壁上均焊有滑块(41),滑块(41)滑动在导杆(31)上,导杆(31)焊接在空腔的内壁之间,并且滑块(41)的上表面嵌有光敏二极管(6),与光敏二极管(6)相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管(5)。
2.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述检测基座(1)上设有两个开关(11)、一个指示灯(12)以及一个按钮(13)。
3.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述定位座(3)呈“U”型结构且其侧壁与电动推杆的活动端相连接固定。
4.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述活动销(4)的一端端部呈尖状设置且为球体结构。
5.根据权利要求2所述的一种检测密封圈缺陷的装置,其特征在于,所述指示灯(12)与光敏二极管(6)之间通过电性连接,且按钮(13)与发光二极管(5)之间也通过电性连接。
6.一种检测密封圈缺陷的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、将检测基座(1)平置,再将待检测的密封圈(2)置于检测基座(1)的检测口处;
S2、分别按下上下两侧的开关(11),令两侧的定位座(3)均调至与密封圈(2)相接触的位置,以活动销(4)的端部露出定位座(3)外2cm为准;
S3、按下按钮(13),启动装置,并手动原地转动密封圈(2),对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况,当出现问题时,活动销(4)出现上下移动的情况,此时,指示灯(12)闪烁,反之,指示灯(12)不闪烁,即若指示灯(12)出现了闪烁现象,则说明此密封圈(2)存在缺陷。
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