[发明专利]存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110269905.9 | 申请日： | 2021-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN113160873B | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 付旭东;高国重;郝守青 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C8/06;G11C29/10;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100095 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供了一种存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及电子设备技术领域。该方法包括：通过写端口向测试区域中的每个存储单元写入第一测试数据，从起始存储单元开始，通过写端口依次向每个存储单元写入第二测试数据，同时通过读端口对未写入第二测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第一读取结果，若从存储单元中读取的第一读取结果与写入存储单元的第一测试数据不同，则确定存储器为故障存储器。在存储器的测试过程中，控制写端口与多个读端口同时动作，可以同时测试写端口与读端口之间是否存在干扰，以及多个读端口之间是否存在干扰，可以快速确定存储器是否为故障存储器。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于龙芯中科技术股份有限公司，未经龙芯中科技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110269905.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
