[发明专利]存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及电子设备技术领域。该方法包括：通过写端口向测试区域中的每个存储单元写入第一测试数据，从起始存储单元开始，通过写端口依次向每个存储单元写入第二测试数据，同时通过读端口对未写入第二测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第一读取结果，若从存储单元中读取的第一读取结果与写入存储单元的第一测试数据不同，则确定存储器为故障存储器。在存储器的测试过程中，控制写端口与多个读端口同时动作，可以同时测试写端口与读端口之间是否存在干扰，以及多个读端口之间是否存在干扰，可以快速确定存储器是否为故障存储器。

技术领域

本发明涉及电子设备技术领域，特别是涉及一种存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着芯片工艺的不断升级迭代，芯片中存储器所占的规模和数量不断变大，使得存储器的测试过程越来越复杂。一般情况下，存储器中会设置至少一个写端口和多个读端口，此时需要测试写端口与读端口同时动作时，写端口与读端口之间是否存在干扰，以及多个读端口同时动作时，多个读端口之间是否存在干扰。

在先技术中，分别测试多个读端口之间的干扰以及写端口和读端口之间的干扰，多个读端口之间的干扰与写端口和读端口之间的干扰分别测试时，测试过程所需的时间比较长，测试效率较低。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种存储器测试方法，以解决分别测试多个读端口之间的干扰以及写端口和读端口之间的干扰时，测试效率较低的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种存储器测试方法，用于测试具有至少一个写端口和至少两个读端口的存储器，包括：

通过所述写端口向测试区域中的每个存储单元写入第一测试数据；所述测试区域包括所述存储器中地址连续的多个存储单元；

从起始存储单元开始，通过所述写端口依次向每个所述存储单元写入第二测试数据，同时通过所述读端口对未写入第二测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第一读取结果；其中，所述起始存储单元为所述测试区域中的第一个存储单元或最后一个存储单元；不同读端口在同一时间读取不同的存储单元；

若从所述存储单元中读取的第一读取结果与写入所述存储单元的第一测试数据不同，则确定所述存储器为故障存储器。

可选地，所述第二测试数据为对所述第一测试数据进行取反运算得到的数据；

在所述得到对应的第一读取结果之后，所述方法还包括：

从所述起始存储单元开始，通过所述写端口依次向每个所述存储单元写入所述第一测试数据，同时通过所述读端口对未写入所述第一测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第二读取结果；

若从所述存储单元中读取的第二读取结果与写入所述存储单元的第二测试数据不同，则确定所述存储器为故障存储器。

可选地，在所述得到对应的第二读取结果之后，所述方法还包括：

从截止存储单元开始，通过所述写端口依次向每个所述存储单元写入所述第二测试数据，同时通过所述读端口对未写入所述第二测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第三读取结果；所述截止存储单元为所述第一个存储单元和所述最后一个存储单元中与所述起始存储单元不同的存储单元；

若从所述存储单元中读取的第三读取结果与写入所述存储单元的第一测试数据不同，则确定所述存储器为故障存储器。

可选地，在所述得到对应的第三读取结果之后，所述方法还包括：

从所述截止存储单元开始，通过所述写端口依次向每个所述存储单元写入所述第一测试数据，同时通过所述读端口对未写入所述第一测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第四读取结果；