[发明专利]存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种存储器测试方法，其特征在于，用于测试具有至少一个写端口和至少两个读端口的存储器，所述方法包括：

通过所述写端口向测试区域中的每个存储单元写入第一测试数据；所述测试区域包括所述存储器中地址连续的多个存储单元；

从起始存储单元开始，通过所述写端口依次向每个所述存储单元写入第二测试数据，同时通过所述读端口对未写入第二测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第一读取结果；其中，所述起始存储单元为所述测试区域中的第一个存储单元或最后一个存储单元；不同读端口在同一时间读取不同的存储单元；当所述写端口的数量为多个时，针对所有所述写端口中的每个写端口，同步执行如下操作：从所述写端口对应的测试区域中的起始存储单元开始，通过所述写端口依次向所述写端口对应的测试区域中的每个存储单元写入所述第二测试数据；在写入所述第二测试数据的同时，通过所述写端口对应的读端口分别对所述写端口对应的测试区域中未写入第二测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第一读取结果；其中，所述写端口对应的测试区域为预先从所述存储器中划分出的区域，所述写端口对应的读端口为预先从所述至少两个读端口中为所述写端口分配的读端口；

若从所述存储单元中读取的第一读取结果与写入所述存储单元的第一测试数据不同，则确定所述存储器为故障存储器。

2.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述第二测试数据为对所述第一测试数据进行取反运算得到的数据；

在所述得到对应的第一读取结果之后，所述方法还包括：

从所述起始存储单元开始，通过所述写端口依次向每个所述存储单元写入所述第一测试数据，同时通过所述读端口对未写入所述第一测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第二读取结果；

若从所述存储单元中读取的第二读取结果与写入所述存储单元的第二测试数据不同，则确定所述存储器为故障存储器。

3.根据权利要求2所述的存储器测试方法，其特征在于，在所述得到对应的第二读取结果之后，所述方法还包括：

从截止存储单元开始，通过所述写端口依次向每个所述存储单元写入所述第二测试数据，同时通过所述读端口对未写入所述第二测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第三读取结果；所述截止存储单元为所述第一个存储单元和所述最后一个存储单元中与所述起始存储单元不同的存储单元；

若从所述存储单元中读取的第三读取结果与写入所述存储单元的第一测试数据不同，则确定所述存储器为故障存储器。

4.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，在所述得到对应的第三读取结果之后，所述方法还包括：

从所述截止存储单元开始，通过所述写端口依次向每个所述存储单元写入所述第一测试数据，同时通过所述读端口对未写入所述第一测试数据的其他存储单元分别进行读取，得到对应的第四读取结果；

若从所述存储单元中读取的第四读取结果与写入所述存储单元的第二测试数据不同，则确定所述存储器为故障存储器。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的存储器测试方法，其特征在于，

所述至少两个读端口读取的存储单元的地址顺序排列，排序相邻的两个读端口读取的存储单元的地址之间相差1。

6.根据权利要求5所述的存储器测试方法，其特征在于，

若所述起始存储单元为第一个存储单元，则所述写端口写入的存储单元的地址比排序最小的读端口读取的存储单元的地址小1；

若所述起始存储单元为最后一个存储单元，则所述写端口写入的存储单元的地址比排序最大的读端口读取的存储单元的地址大1。

7.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，

向所述存储单元写入的所述第一测试数据和所述第二测试数据为根据所述存储单元的地址生成的测试数据。