[发明专利]芯片的自动测试系统及方法在审
| 申请号： | 202110261945.9 | 申请日： | 2021-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN113030702A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 刘叶 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 张燕 |
| 地址： | 201114 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片的自动测试系统及方法，所述芯片的自动测试系统包括：客户端，用于发送针对所述芯片的测试指令；服务端，包括主板及与其连接的芯片；其中，所述主板用于接收所述测试指令，将所述测试指令转换为测试文件，并将所述测试文件传输至所述芯片；所述芯片用于在接收到所述测试文件后，触发与测试文件相关的测试项目，生成该芯片的功能测试结果，并通过所述主板将所述芯片的功能测试结果分享至所述客户端。本发明摒弃了现有测试方法，提升了芯片测试结果的可靠性，节约了测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 自动 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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