[发明专利]芯片的自动测试系统及方法

说明书

本发明提供一种芯片的自动测试系统及方法，所述芯片的自动测试系统包括：客户端，用于发送针对所述芯片的测试指令；服务端，包括主板及与其连接的芯片；其中，所述主板用于接收所述测试指令，将所述测试指令转换为测试文件，并将所述测试文件传输至所述芯片；所述芯片用于在接收到所述测试文件后，触发与测试文件相关的测试项目，生成该芯片的功能测试结果，并通过所述主板将所述芯片的功能测试结果分享至所述客户端。本发明摒弃了现有测试方法，提升了芯片测试结果的可靠性，节约了测试时间。

技术领域

本发明属于芯片测试技术领域，涉及一种测试系统及方法，特别是涉及一种芯片的自动测试系统及方法。

背景技术

伺服器系统中，芯片占据很特别的位置，主板CPU，PCH，BMCVRMS等与芯片交互的信号越来越多，芯片内部的控制模块数量也飞速增长。这样对于芯片功能的测试也变得越来越复杂，如图1所示的现有测试方法依赖示波器依次测量信号，需要熟练的工程师了解对应系统的工作模式才可以进行测试，这种方法不但考验测试工程师的能力，测试周期也会加长，结果的检查也耗时耗力。

因此，如何提供一种芯片的自动测试系统及方法，以解决现有芯片测试通过测试工程师测试，导致测试结果不准确，测试周期长，结果的检查也耗时耗力等缺陷，实已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种芯片的自动测试系统及方法，用于解决现有芯片测试通过测试工程师测试，导致测试结果不准确，测试周期长，结果的检查也耗时耗力的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明一方面提供一种芯片的自动测试系统，包括：客户端，用于发送针对所述芯片的测试指令；服务端，包括主板及与其连接的芯片；其中，所述主板用于接收所述测试指令，将所述测试指令转换为测试文件，并将所述测试文件传输至所述芯片；所述芯片用于在接收到所述测试文件后，触发与测试文件相关的测试项目，生成该芯片的功能测试结果，并通过所述主板将所述芯片的功能测试结果分享至所述客户端。

于本发明的一实施例中，所述测试指令包括寄存器指令；所述寄存器指令的格式为地址位+寄存器值。

于本发明的一实施例中，所述客户端通过通用异步收发传输器或网络接口控制器将所述测试指令发送至所述主板；所述主板通过通用异步收发传输器或网络接口控制器将所述芯片的功能测试结果分享至所述客户端。

于本发明的一实施例中，所述主板与所述芯片按照至少一种传输协议进行系统间的数据交互；所述传输协议包括串行通用输入/输出协议、低管脚数协议、双向二线制同步串行协议和/或串行外设接口协议。

于本发明的一实施例中，所述主板的中央处理器、集成南桥、基板管理控制器或电压调节模块与所述芯片数据交互。

于本发明的一实施例中，所述主板将所述测试指令转换为符合串行通用输入协议、低管脚数协议、双向二线制同步串行协议和/或串行外设接口协议的测试文件；所述芯片将芯片的功能测试结果转换为符合串行通用输出协议、低管脚数协议、双向二线制同步串行协议和/或串行外设接口协议的测试结果。

于本发明的一实施例中，所述主板将芯片的功能测试结果转换为客户端可识别的测试日志文件，并将该测试日志文件分享至所述客户端。

于本发明的一实施例中，所述芯片包括复杂可编程逻辑器件和/或现场可编程门阵列。

本发明另一方面提供一种芯片的自动测试方法，应用于一芯片的自动测试系统，该芯片的自动测试系统包括客户端、与客户端连接的服务端，所述服务端包括主板及与其连接的芯片；所述芯片的自动测试方法包括：所述客户端发送针对所述芯片的测试指令；所述主板接收所述测试指令，将所述测试指令转换为测试文件，并将所述测试文件传输至所述芯片；所述芯片在接收到所述测试文件后，触发与测试文件相关的测试项目，生成该芯片的功能测试结果；所述主板将所述芯片的功能测试结果分享至所述客户端。