[发明专利]一种可用于高频测试的光学芯片检测座在审
| 申请号： | 202110224616.7 | 申请日： | 2021-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN113009320A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 王文兵;刘才君;刘泽鑫 | 申请（专利权）人： | 深圳市容微精密电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 重庆壹手知专利代理事务所(普通合伙) 50267 | 代理人： | 刘军 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市龙华区观湖街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可用于高频测试的光学芯片检测座，具体涉及芯片检测领域，包括箱体，所述箱体设有滑槽一，所述滑槽一上部滑动连接有多个转动滑块，多个所述转动滑块上部固定连接有转盘，所述转盘内部设有多个固定槽，多个所述固定槽为倒置锥形，且多个所述固定槽内部均固定连接有限位块，所述箱体左侧固定连接有连接柱，所述连接柱右侧设有滑槽二，所述滑槽二内部滑动有多个T形滑块，多个所述T形滑块远离连接柱一侧固定连接有上检测座，所述上检测座下部固定连接有安装板，所述安装板内部固定连接有多个探测针。本发明在进行检测时机械化程度更高，进行流水检测，检测方式更加方便，检测效率更高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 高频 测试 光学 芯片 检测 | ||
【主权项】：
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