[发明专利]一种可用于高频测试的光学芯片检测座

权利要求书

1.一种可用于高频测试的光学芯片检测座，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)设有滑槽一，所述滑槽一上部滑动连接有多个转动滑块(2)，多个所述转动滑块(2)上部固定连接有转盘(3)，所述转盘(3)通过转动滑块(2)与滑槽一转动在箱体(1)上部，所述转盘(3)内部设有多个固定槽(4)，多个所述固定槽(4)为倒置锥形，且多个所述固定槽(4)内部均固定连接有限位块(5)，所述固定槽(4)连通转盘(3)上下两部分，所述箱体(1)左侧固定连接有连接柱(6)，所述连接柱(6)右侧设有滑槽二(7)，所述滑槽二(7)内部滑动有多个T形滑块(8)，多个所述T形滑块(8)远离连接柱(6)一侧固定连接有上检测座(9)，所述上检测座(9)下部固定连接有安装板(10)，所述安装板(10)内部固定连接有多个探测针(11)，且多个所述探测针(11)并列设置。

2.根据权利要求1所述的一种可用于高频测试的光学芯片检测座，其特征在于：所述上检测座(9)上部固定安装有电机一(12)，所述电机一(12)输出轴上固定连接有齿轮一(13)，所述连接柱(6)靠近上检测座(9)的一侧固定连接有齿板(14)，所述齿轮一(13)与齿板(14)表面啮合连接。

3.根据权利要求2所述的一种可用于高频测试的光学芯片检测座，其特征在于：所述箱体(1)右侧设有通孔一(15)，所述通孔一(15)内部固定连接有中心轴(16)，所述箱体(1)上部设有通孔二(17)，所述通孔二(17)内部活动连接有顶杆(18)，所述顶杆(18)下部转动连接有撬杆(19)，所述撬杆(19)内部设有滑槽三(20)，所述撬杆(19)通过滑槽三(20)滑动连接自中心轴(16)上部，所述顶杆(18)上部固定连接有顶块(21)。

4.根据权利要求3所述的一种可用于高频测试的光学芯片检测座，其特征在于：所述箱体(1)上部固定连接有多个支撑柱(22)，多个所述支撑柱(22)上部固定连接有固定盘(23)，所述固定盘(23)内部固定安装有显示器(24)，所述固定盘(23)设置在转盘(3)内部，且所述固定盘(23)与转盘(3)之间转动连接。

5.根据权利要求4所述的一种可用于高频测试的光学芯片检测座，其特征在于：所述箱体(1)下部内壁固定连接有安装架(25)，所述安装架(25)内部固定安装有电机二(26)，所述电机二(26)输出轴上固定连接有齿轮二(27)，所述箱体(1)内部转动连接有转轴一(28)，所述转轴一(28)表面固定套接有齿轮三(29)，所述齿轮三(29)与齿轮二(27)表面啮合连接。

6.根据权利要求5所述的一种可用于高频测试的光学芯片检测座，其特征在于：所述箱体(1)下部固定连接有底板(30)，所述底板(30)下部固定连接有多个移动座(31)，多个所述移动座(31)相对的一侧固定连接有转轴二(32)，所述转轴二(32)表面固定套接有滚轮(33)。

7.根据权利要求6所述的一种可用于高频测试的光学芯片检测座，其特征在于：所述转轴一(28)向下延伸至底板(30)下部，所述转轴一(28)上部与下部均固定连接有齿轮四(34)，所述箱体(1)上部与底板(30)下部均设有凹槽(35)，所述转盘(3)下部固定连接有环形的齿环(36)，其中上侧所述齿轮四(34)与齿环(36)表面啮合连接。

8.根据权利要求7所述的一种可用于高频测试的光学芯片检测座，其特征在于：所述底板(30)下部转动连接有转轴三(37)，所述转轴三(37)表面固定套接有齿轮五(38)，其中下侧所述齿轮四(34)与齿轮五(38)表面啮合连接，所述转轴三(37)表面固定套接有主动斜齿轮(39)，其中左侧所述转轴二(32)表面固定套接有从动斜齿轮(40)，所述主动斜齿轮(39)与从动斜齿轮(40)表面啮合连接。

9.根据权利要求8所述的一种可用于高频测试的光学芯片检测座，其特征在于：所述箱体(1)前侧设有调节槽(41)，所述调节槽(41)内部对称设置有多个缺口(42)，所述缺口(42)内部卡接有两个卡块(43)，两个所述卡块(43)相对的一侧固定连接有调节块(44)，所述转轴一(28)表面转动连接有定位块(45)，所述定位块(45)固定连接在调节块(44)内部。