[发明专利]一种可用于高频测试的光学芯片检测座

说明书

本发明公开了一种可用于高频测试的光学芯片检测座，具体涉及芯片检测领域，包括箱体，所述箱体设有滑槽一，所述滑槽一上部滑动连接有多个转动滑块，多个所述转动滑块上部固定连接有转盘，所述转盘内部设有多个固定槽，多个所述固定槽为倒置锥形，且多个所述固定槽内部均固定连接有限位块，所述箱体左侧固定连接有连接柱，所述连接柱右侧设有滑槽二，所述滑槽二内部滑动有多个T形滑块，多个所述T形滑块远离连接柱一侧固定连接有上检测座，所述上检测座下部固定连接有安装板，所述安装板内部固定连接有多个探测针。本发明在进行检测时机械化程度更高，进行流水检测，检测方式更加方便，检测效率更高。

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，更具体地说，本发明涉及一种可用于高频测试的光学芯片检测座。

背景技术

目前，芯片是主板的核心组成部分，按照安装位置分为北桥芯片和南桥芯片，尽管芯片尺寸在不断减小，但一个芯片依然可封装几百万个到上1亿个晶体管，测试模式的数目已经增加到前所未有的程度，从而导致测试周期变长。

但是在实际使用时，目前所使用的光学芯片检测装置自动化程度不足，在进行检测时检测速度慢，单个芯片的检测步骤复杂，耗费时间，检测效率较低。

发明内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本发明的实施例提供一种可用于高频测试的光学芯片检测座，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种可用于高频测试的光学芯片检测座，包括箱体，所述箱体设有滑槽一，所述滑槽一上部滑动连接有多个转动滑块，多个所述转动滑块上部固定连接有转盘，所述转盘通过转动滑块与滑槽一转动在箱体上部，所述转盘内部设有多个固定槽，多个所述固定槽为倒置锥形，且多个所述固定槽内部均固定连接有限位块，所述固定槽连通转盘上下两部分，所述箱体左侧固定连接有连接柱，所述连接柱右侧设有滑槽二，所述滑槽二内部滑动有多个T形滑块，多个所述T形滑块远离连接柱一侧固定连接有上检测座，所述上检测座下部固定连接有安装板，所述安装板内部固定连接有多个探测针，且多个所述探测针并列设置。

进一步的，所述上检测座上部固定安装有电机一，所述电机一输出轴上固定连接有齿轮一，所述连接柱靠近上检测座的一侧固定连接有齿板，所述齿轮一与齿板表面啮合连接。

进一步的，所述箱体右侧设有通孔一，所述通孔一内部固定连接有中心轴，所述箱体上部设有通孔二，所述通孔二内部活动连接有顶杆，所述顶杆下部转动连接有撬杆，所述撬杆内部设有滑槽三，所述撬杆通过滑槽三滑动连接自中心轴上部，所述顶杆上部固定连接有顶块。

进一步的，所述箱体上部固定连接有多个支撑柱，多个所述支撑柱上部固定连接有固定盘，所述固定盘内部固定安装有显示器，所述固定盘设置在转盘内部，且所述固定盘与转盘之间转动连接。

进一步的，所述箱体下部内壁固定连接有安装架，所述安装架内部固定安装有电机二，所述电机二输出轴上固定连接有齿轮二，所述箱体内部转动连接有转轴一，所述转轴一表面固定套接有齿轮三，所述齿轮三与齿轮二表面啮合连接。

进一步的，所述箱体下部固定连接有底板，所述底板下部固定连接有多个移动座，多个所述移动座相对的一侧固定连接有转轴二，所述转轴二表面固定套接有滚轮。

进一步的，所述转轴一向下延伸至底板下部，所述转轴一上部与下部均固定连接有齿轮四，所述箱体上部与底板下部均设有凹槽，所述转盘下部固定连接有环形的齿环，其中上侧所述齿轮四与齿环表面啮合连接。

进一步的，所述底板下部转动连接有转轴三，所述转轴三表面固定套接有齿轮五，其中下侧所述齿轮四与齿轮五表面啮合连接，所述转轴三表面固定套接有主动斜齿轮，其中左侧所述转轴二表面固定套接有从动斜齿轮，所述主动斜齿轮与从动斜齿轮表面啮合连接。