[发明专利]识别集成电路缺陷的系统和方法以及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202110185511.5 | 申请日： | 2021-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN113514751A | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 安基达·帕帝达;桑迪·库马·戈埃尔 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;李伟 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 识别集成电路缺陷的方法：获得集成电路的电路设计，电路设计包括彼此耦接的一个或多个单元的网表；识别与一个或多个单元中的一个对应的网表；将缺陷注入多个电路元件之一以及单元的一个或多个互连件；通过向单元的输入端施加激励来获取单元的被注入缺陷的位置处的第一电流波形；通过向单元的输入端施加相同激励来在未注入缺陷的情况下获取单元的位置处的第二电流波形；以及基于第一电流波形和第二电流波形来选择性注释具有缺陷的单元的输入/输出表。本发明的实施例还涉及识别集成电路缺陷检的系统以及计算机可读存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 识别 集成电路 缺陷 系统 方法 以及 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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