[发明专利]识别集成电路缺陷的系统和方法以及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种识别集成电路的缺陷的方法，包括：

获得集成电路的电路设计，所述电路设计包括彼此通信连接的一个或多个单元的相应网表；

识别与所述一个或多个单元中的一个对应的所述网表，所述单元包括一个或多个输入端、一个或多个输出端以及经由所述单元内的相应的一个或多个互连件而彼此通信连接的多个电路元件；

将缺陷注入所述多个电路元件中的一个以及所述一个或多个互连件；

通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加多个激励来获取被注入所述缺陷的所述单元的位置处的第一电流波形；

通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加相同激励来在未注入所述缺陷的情况下获取所述单元的所述位置处的第二电流波形；以及

基于所述第一电流波形和所述第二电流波形用所述缺陷来选择性地注释所述单元的输入/输出表。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，识别所述单元的所述网表还包括：

定位与所述一个或多个单元中的至少第二个连接的所述单元的所述一个或多个输入；以及

定位与所述一个或多个单元中的至少第三个连接的所述单元的所述一个或多个输入。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个电路元件包括至少一个有源电路元件，注入所述缺陷还包括：

断开所述至少一个有源电路元件的多个端子中的两个。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个电路元件包括至少一个有源电路元件，注入所述缺陷还包括：

短接所述至少一个有源电路元件的多个端子中的两个。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个电路元件包括无源电路元件，注入所述缺陷还包括：

在一定范围内变化所述无源电路元件的设计意图值。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，注入所述缺陷还包括：

断开所述一个或多个互连件中的至少一个。

7.根据权利要求1所述的方法，还包括：

通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加相同激励来在注入所述缺陷的情况下获取所述单元的所述一个或多个输出端处的第一电压波形；

通过向所述单元的所述一个或多个输入端施加相同激励来在未注入所述缺陷的情况下获取所述单元的所述一个或多个输出端处的第二电压波形；

将所述第一电压波形与所述第二电压波形进行比较；以及

响应于确定所述第一电压波形与所述第二电压波形之间的差异满足第一阈值，将所述缺陷识别为第一类型的缺陷。

8.根据权利要求7所述的方法，还包括：

响应于确定所述第一电压波形与所述第二电压波形之间的所述差异满足所述第一阈值，识别所述激励中的哪一个对应于所确定的所述差异；以及

通过关联所识别的所述激励与所述缺陷来注释所述单元的所述输入/输出表。