[发明专利]一种用于对电源芯片进行静电放电测试的方法及系统在审
| 申请号： | 202110184191.1 | 申请日： | 2021-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN113721123A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 李求洋;张蓬鹤;徐英辉;熊素琴;陈思禹;袁翔宇;张保亮;李扬;成达 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国网山东省电力公司电力科学研究院;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 姜丽楼 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于对电源芯片进行静电放电测试的方法及系统，将环境温度设置成25℃，湿度设置成55％RH，所有引脚对地打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑)，所有的引脚对Vcc打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑)，所有I/O引脚对I/O引脚打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑)，其中每个步骤执行3次打压，时间间隔为1分钟；3次打压结束后，通过判断电源芯片IV曲线变化是否超过1μA+/‑30％以及电性测试来判断电源芯片是否符合设计标准；本发明的静电放电测试方法可以节约测试时间，提升电源芯片静电放电电压测试的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电源 芯片 进行 静电 放电 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电力科学研究院有限公司;国网山东省电力公司电力科学研究院;国家电网有限公司，未经中国电力科学研究院有限公司;国网山东省电力公司电力科学研究院;国家电网有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110184191.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
