[发明专利]一种薄膜谐振器的晶圆级封装方法及结构有效

专利信息
申请号: 202110145337.1 申请日: 2021-02-02
公开(公告)号: CN112967940B 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 钱盈;唐兆云;赖志国;杨清华;王家友 申请(专利权)人: 苏州汉天下电子有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/56;H01L23/488;H01L25/18;H01L23/31
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 215000 江苏省苏州市苏州工业园区金*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种薄膜谐振器的晶圆级封装方法及结构。该方法包括:制备第一晶圆,第一晶圆具有第一表面以及与第一表面相对的第二表面,第一晶圆的第一表面设置有至少一个薄膜谐振器单元和至少两个焊盘,焊盘和薄膜谐振器单元的电极电连接;制备第二晶圆,第二晶圆具有第三表面以及与第三表面相对的第四表面;将第一晶圆的第一表面放置在第二晶圆的第三表面侧;在第二晶圆形成沟槽,沟槽暴露焊盘的部分或者全部;在沟槽的底面和侧壁形成布线层,其中,布线层与焊盘电连接;沿沟槽,对第二晶圆和第一晶圆进行切割。本实施例提供的技术方案,提高了薄膜谐振器的封装方法的封装效率。
搜索关键词: 一种 薄膜 谐振器 晶圆级 封装 方法 结构
【主权项】:
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