[发明专利]一种纳米材料分散性的检测方法有效
| 申请号： | 202110050374.4 | 申请日： | 2021-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN112858115B | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 成立;方伟;王汉卿;杨丽君;廖瑞金 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N15/02;G01N29/34;G01N29/24 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 巩克栋 |
| 地址： | 400044 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种纳米材料分散性的检测方法，所述检测方法包括：采集纳米材料样品的非线性系数，将采集得到的非线性系数通过平均粒径‑非线性系数关系式或平均粒径‑非线性系数关系表进行计算或对比，得到所述纳米材料样品的平均粒径值，进而确定纳米材料样品的分散性。通过纳米复合材料的声学特征获得材料中纳米颗粒的平均粒径数值，进而实现纳米复合材料整体分散性的定量检测，使检测范围得到大幅提升，检测效率得到大幅提升，检测成本大幅降低，无需对材料进行破坏处理，受测样品后续使用不会受到影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 材料 分散性 检测 方法 | ||
【主权项】：
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