[发明专利]用于DAX成像的全视场散射估计有效

专利信息
申请号: 202080014912.8 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN113453623B 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: S·P·普雷弗尔哈尔;T·克勒;K·J·恩格尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘兆君
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种被配置用于相衬成像和/或暗场成像的X射线成像系统(XI)。所述系统包括:X射线源(XS),其能操作用于使X辐射从所述源(XS)的焦斑(SF)发出;以及X射线敏感探测器(D),其能操作用于:如果在所述X射线源与所述探测器(D)之间存在要被成像的对象,则在所述X辐射与所述对象发生相互作用之后探测所述X辐射。控制逻辑单元(CL)能操作用于使所述X射线成像装置在两种模式中的任意一种模式中操作,所述两种模式是对象图像采集模式和散射测量模式。当在散射测量模式中时在所述探测器处能接收到的所述X辐射与当所述系统在对象图像采集模式中时能接收到的X辐射相比包括更高比例的散射辐射。
搜索关键词: 用于 dax 成像 视场 散射 估计
【主权项】:
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