[发明专利]用于DAX成像的全视场散射估计

说明书

一种被配置用于相衬成像和/或暗场成像的X射线成像系统(XI)。所述系统包括：X射线源(XS)，其能操作用于使X辐射从所述源(XS)的焦斑(SF)发出；以及X射线敏感探测器(D)，其能操作用于：如果在所述X射线源与所述探测器(D)之间存在要被成像的对象，则在所述X辐射与所述对象发生相互作用之后探测所述X辐射。控制逻辑单元(CL)能操作用于使所述X射线成像装置在两种模式中的任意一种模式中操作，所述两种模式是对象图像采集模式和散射测量模式。当在散射测量模式中时在所述探测器处能接收到的所述X辐射与当所述系统在对象图像采集模式中时能接收到的X辐射相比包括更高比例的散射辐射。

技术领域

本发明涉及被配置用于相衬成像和/或暗场成像的X射线成像系统、操作X射线成像装置的方法、计算机程序单元以及计算机可读介质。

背景技术

暗场(“DAX”)成像已经引起了人们的兴趣，尤其是在医学领域。暗场成像是一种X射线成像。暗场成像中的对比度涉及X辐射经历的小角度散射的量。

A.Yaroshenko等人在“Pulmonary Emphysema Diagnosis with aPreclinicalSmall-Animal X-ray Dark-Field Scatter-Contrast Scanner”(放射学，第269卷，第2期，2013年11月)中已经报告了利用小鼠进行的实验性暗场成像。也已经发现相衬能够增加额外的有用见解，特别是在对软组织进行成像时。

已经过度使用了暗场成像，有时暗场图像或相衬图像会被伪影破坏。

发明内容

因此，可能需要替代的系统或方法来改善暗场成像或相衬成像。

本发明的目的通过独立权利要求的主题来解决，其中，进一步的实施方案包含在从属权利要求中。应当注意，本发明的以下描述的方面等同地适用于操作X射线成像装置的方法、计算机程序单元以及计算机可读介质。

根据本发明的第一方面，提供了一种被配置用于相衬成像和/或暗场成像的X射线成像系统，包括：

X射线源，其能操作用于使X辐射从所述源的焦斑发出；

X射线敏感探测器，其能操作用于：如果在所述X射线源与所述探测器之间存在要被成像的对象，则在所述X辐射与所述对象发生相互作用之后探测所述X辐射；

控制逻辑单元，其能操作用于使所述X射线成像装置在两种模式中的任意一种模式中操作，所述两种模式是对象图像采集模式和散射测量模式，其中，当在散射测量模式中时在所述探测器处能接收到的所述X辐射与当所述系统在对象图像采集模式中时能接收到的X辐射相比包括更高比例的散射辐射；以及

散射校正器，其能操作用于基于所测量的散射数据来减少或者促进减少或者防止能根据在图像采集模式中采集的数据生成的对象图像中的散射伪影。

该系统提高了DAX图像和/或相衬图像的质量。

在一个实施例中，所述系统包括被布置在所述X射线源与所述探测器之间的散射测量促进器，所述散射测量促进器的至少一个或多个部分能够阻挡X辐射，当所述系统在散射测量模式中时，所述控制逻辑单元使所述散射测量促进器的姿态相对于当所述系统在对象图像采集模式中时所述散射测量促进器的姿态发生变化，使得所述至少一个或多个部分阻挡所述X辐射中的至少一些X辐射。优选地，主要是或仅，次级辐射到达探测器。

在一个实施例中，所述散射测量促进器包括以下各项中的任意一项或多项：i)抗散射网格，ii)干涉仪的至少部分，iii)编码孔径板。

在一个实施例中，所述X辐射的方向能通过源接口发生改变，其中，当所述系统在对象图像采集模式中时，所述控制逻辑单元通过所述接口使X辐射沿着第一方向发出，而当所述系统在散射测量模式中时，所述控制逻辑单元通过所述接口使所述X辐射沿着不同于所述第一方向的第二方向发出。