[实用新型]光敏芯片测试基板装置有效
| 申请号： | 202023353046.1 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN214335143U | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 孙夺;刘大福 | 申请（专利权）人： | 无锡中科德芯光电感知技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 杨东明;罗洋 |
| 地址： | 214028 江苏省无锡市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种光敏芯片测试基板装置包括：基板本体；保护壳和可透光的窗口片，保护壳的一端可拆卸地固定于基板本体的端面上，并在基板本体上围合成一个用于容置光敏芯片的保护腔，保护壳上远离基板本体的一端具有一窗口，窗口片的四周固定于窗口；及一一对应设置的键压电极和延伸电极，键压电极固定于基板本体的端面，延伸电极的一端与键压电极电性连接，且延伸电极的另一端用于和光敏芯片电性连接，延伸电极与保护壳绝缘设置。首先通过基板本体上的保护壳将光敏芯片完整覆盖，避免测试过程中光敏芯片产生物理损伤。再者，通过螺钉及限位插片的组合，保护壳与基板本体实现可拆卸连接，具有良好的可操作性和重复使用性。 | ||
| 搜索关键词： | 光敏 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡中科德芯光电感知技术研究院有限公司，未经无锡中科德芯光电感知技术研究院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202023353046.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种硅棒清洗液配制系统
- 下一篇：一种绕线机用多功能放管设备
