[实用新型]光敏芯片测试基板装置

权利要求书

1.一种光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述光敏芯片测试基板装置包括：

基板本体；

保护壳和可透光的窗口片，所述保护壳的一端可拆卸地固定于所述基板本体的端面上，并在所述基板本体上围合成一个用于容置光敏芯片的保护腔，所述保护壳上远离所述基板本体的一端具有一窗口，所述窗口片的四周固定于所述窗口；及

一一对应设置的键压电极和延伸电极，所述键压电极固定于所述基板本体的端面，所述延伸电极的一端与所述键压电极电性连接，且所述延伸电极的另一端用于和所述光敏芯片电性连接，所述延伸电极与所述保护壳绝缘设置。

2.如权利要求1所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述保护壳具有向外侧水平折弯形成的固定基座，所述固定基座与所述基板本体可拆卸连接。

3.如权利要求2所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述固定基座的数量为两个，所述固定基座对称设置于所述保护壳的两端。

4.如权利要求3所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述保护壳的其余两端具有向外水平折弯形成的金属折弯基座，所述延伸电极位于所述金属折弯基座的下方，所述延伸电极与所述金属折弯基座间具有间隙。

5.如权利要求4所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述光敏芯片测试基板装置包括若干个所述键压电极和所述延伸电极，所述基板本体具有四个边部，其中任意一个或多个所述边部线性排布有多个所述键压电极。

6.如权利要求5所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述延伸电极沿所述基板本体的延伸方向对称设置，所述金属折弯基座下方设置有所述延伸电极，所述固定基座的下方未设置有所述延伸电极。

7.如权利要求6所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，部分或全部所述延伸电极在靠近所述键压电极的一端具有弯折并在弯折处进行圆角处理。

8.如权利要求2所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述光敏芯片测试基板装置包括螺钉和限位插片，所述螺钉与所述基板本体螺纹连接，并贯穿所述固定基座，所述限位插片与所述螺钉卡接，并在所述基板本体的端面的法向上将所述固定基座和所述基板本体固定。

9.如权利要求8所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述螺钉的数量为四个，所述螺钉对称设置于两个所述固定基座，位于同一所述固定基座的螺钉对称分布，所述螺钉与所述限位插片一一对应卡接。

10.如权利要求8所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述螺钉包括螺纹柱，所述基板本体开设螺纹孔，所述螺纹柱的一端旋入所述螺纹孔内，所述螺纹柱与所述基板本体螺纹连接。

11.如权利要求10所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述螺钉还包括支撑基座，所述支撑基座的一端与所述螺纹柱的另一端固定连接，所述支撑基座位于所述基板本体和所述固定基座之间，所述支撑基座的两个端面分别贴合所述基板本体和所述固定基座。

12.如权利要求11所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述螺钉还包括固定支柱和限位支柱，所述固定支柱的一端与所述支撑基座的另一端固定连接，且所述固定支柱的另一端与所述限位支柱的一端固定连接，所述固定基座开设通孔，所述通孔与所述螺纹孔对应，所述固定支柱位于所述通孔内，所述限位支柱与所述限位插片卡接，所述固定支柱的上表面不高于所述固定基座的上表面。

13.如权利要求12所述的光敏芯片测试基板装置，其特征在于，所述螺钉还包括沉头，所述沉头的一端与所述限位支柱的另一端固定连接，所述沉头的另一端开设十字凹槽。