[实用新型]一种高寿命半导体器件用测试针及其组件有效
| 申请号： | 202023289064.8 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN214794889U | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 闵哲 | 申请（专利权）人： | 苏州朗之睿电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/073;G01R31/26 |
| 代理公司： | 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246 | 代理人： | 朱斌兵 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种高寿命半导体器件用测试针及其组件，所述高寿命半导体器件用测试针包括测试针本体，测试针本体的中部设置有定位孔；测试针本体的上侧设置有一个针尖支撑臂，针尖支撑臂的自由端安装有测试针尖，针尖支撑臂的根部与测试针本体固定连接；测试针本体的下侧设置有一个针脚支撑臂，针脚支撑臂的自由端处设置有测试针腿，针脚支撑臂的根部与测试针本体固定连接；针尖支撑臂和针脚支撑臂与测试针本体间隔设置。本实用新型的高寿命半导体器件用测试针具有与测试点接触良好，测试稳定的特点，能够提升良品率、生产效率，并降低成本；且适用寿命较长，能够满足大电流产品的测试要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 寿命 半导体器件 测试 及其 组件 | ||
【主权项】：
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