[实用新型]一种用于三维显微镜横向示值误差校准的标准器有效
| 申请号： | 202023126234.0 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN214333693U | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 方丹;王云祥;黄红平;王震 | 申请（专利权）人： | 苏州市计量测试院 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G01B9/02 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;贾允 |
| 地址： | 215128 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于三维显微镜横向示值误差校准的标准器，包括循迹结构和工作区域，所述循迹结构位于所述工作区域的外侧，所述工作区域包括多个子区域，所述子区域包括矩阵二维栅格结构，多个所述子区域中至少二个矩阵二维栅格的计量尺寸不同，所述循迹结构包括循迹标识，所述循迹标识位于所述工作区域外侧，所述循迹标识用于辅助引导操作者定位所述矩阵二维栅格结构位置。通过提供了不同计量尺寸的矩阵二维栅格结构，扩大了标准器可适用的仪器型号范围；解决了现有技术中在校准不同倍率镜头时需要多次更换标准器，测量效率低，影响测量结果准确性的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 三维 显微镜 横向 误差 校准 标准 | ||
【主权项】：
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