[实用新型]一种晶粒端面检验辅助装置有效
| 申请号： | 202023124106.2 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN214174125U | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 黎连佳;李晓明 | 申请（专利权）人： | 宁波元芯光电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司： | 宁波诚源专利事务所有限公司 33102 | 代理人： | 张一平;林辉 |
| 地址： | 315100 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种晶粒端面检验辅助装置，包括载物台，其特征在于：所述辅助装置还包括横向平移机构、旋转调整机构和倾角调整机构；所述旋转调整机构包括固定座和旋转座，所述固定座与横向平移机构的输出端连接而能在横向上直线移动，所述旋转座能相对固定座转动，所述旋转座的旋转轴在纵向上延伸；所述倾角调整机构包括位于旋转座上方的座体，所述载物台设置在座体顶面，所述座体与旋转座转动连接，所述座体的旋转轴在横向上延伸。与现有技术相比，本实用新型的优点在于：通过设置横向平移机构、旋转调整机构和倾角调整机构，能调整晶粒三个方向上的位置，从而便于观察检验晶粒端面，提高检验效率，还能防止晶粒损毁。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶粒 端面 检验 辅助 装置 | ||
【主权项】：
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