[实用新型]一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱有效
| 申请号： | 202023061508.2 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN214703799U | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 王世中 | 申请（专利权）人： | 陕西沅安科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 | 代理人： | 赵娇 |
| 地址： | 710077 陕西省西安市*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子元器件测试技术领域，且公开了一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱，包括箱体，所述箱体左侧的内壁固定连接有喷淋管，所述喷淋管的管壁固定连通有导水管，所述箱体的外壁固定连接有固定板，所述固定板上侧的侧壁固定连接有泵机，所述泵机的出水口与导水管固定连通，所述泵机的进水口固定连通有抽水管，所述箱体右侧的侧壁固定连接有电热丝。本实用新型能够对电子元器件进行缓慢转动，有效的提高了测试结果的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电子元器件 低温 湿热 老化 测试 | ||
【主权项】：
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