[实用新型]一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱

权利要求书

1.一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱，包括箱体（1），其特征在于，所述箱体（1）左侧的内壁固定连接有喷淋管（2），所述喷淋管（2）的管壁固定连通有导水管（3），所述箱体（1）的外壁固定连接有固定板（4），所述固定板（4）上侧的侧壁固定连接有泵机（5），所述泵机（5）的出水口与导水管（3）固定连通，所述泵机（5）的进水口固定连通有抽水管（6），所述箱体（1）右侧的侧壁固定连接有电热丝（7），所述箱体（1）上侧的侧壁设置有箱盖（8），所述箱盖（8）下侧的侧壁固定连接有制冷管（9），所述箱体（1）下侧的侧壁开设有排污孔（10），所述箱体（1）底部的内壁固定连接有U型板（11），所述U型板（11）上侧的侧壁开设有轴孔（12），所述轴孔（12）的孔壁通过轴承转动连接有转轴（13），所述转轴（13）的两端均伸出轴孔（12），所述转轴（13）上侧的侧壁固定连接有载物板（14），所述载物板（14）上侧的侧壁固定连接有竖杆（15），所述竖杆（15）的杆壁活动套设有压板（16），所述压板（16）上侧的侧壁开设有滑动孔（17），所述竖杆（15）通过滑动孔（17）贯穿压板（16），所述竖杆（15）的上端固定连接有挡板（18），所述挡板（18）与压板（16）之间设置有压缩弹簧（19），所述压缩弹簧（19）活动套设于竖杆（15）外，所述U型板（11）右侧的侧壁固定连接有马达（20），所述马达（20）的输出轴固定套设有主动齿轮（21），所述转轴（13）的轴壁固定套设有与主动齿轮（21）相啮合的从动齿轮（22），所述主动齿轮（21）的直径小于从动齿轮（22）的直径，所述U型板（11）的水平侧壁固定连接有套筒（23），所述套筒（23）活动套设于转轴（13）外，所述套筒（23）的内壁固定连接有阻尼胶圈（24），所述阻尼胶圈（24）的内壁与转轴（13）紧密贴合。

2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱，其特征在于，所述箱体（1）下表面的四角处均固定连接有脚柱（25），所述箱体（1）的下方设置有集污箱（26）。

3.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱，其特征在于，所述箱盖（8）上侧的侧壁对称固定连接有两个把手（27）。

4.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱，其特征在于，所述载物板（14）上侧的侧壁固定连接有卡杆（28），所述压板（16）下侧的侧壁开设有卡孔（29），所述卡杆（28）的上端通过卡孔（29）贯穿压板（16）。

5.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱，其特征在于，所述电热丝（7）外套设有陶瓷管（30）。

6.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱，其特征在于，所述载物板（14）上侧的侧壁开设有放置槽（31）。