[实用新型]一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱有效

专利信息
申请号: 202023061508.2 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN214703799U 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 王世中 申请(专利权)人: 陕西沅安科技发展有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人: 赵娇
地址: 710077 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 电子元器件 低温 湿热 老化 测试
【说明书】:

实用新型涉及电子元器件测试技术领域,且公开了一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱,包括箱体,所述箱体左侧的内壁固定连接有喷淋管,所述喷淋管的管壁固定连通有导水管,所述箱体的外壁固定连接有固定板,所述固定板上侧的侧壁固定连接有泵机,所述泵机的出水口与导水管固定连通,所述泵机的进水口固定连通有抽水管,所述箱体右侧的侧壁固定连接有电热丝。本实用新型能够对电子元器件进行缓慢转动,有效的提高了测试结果的准确度。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件测试技术领域,尤其涉及一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱。

背景技术

电子元器件在生产组装完成后,为了检测电子元器件的抗老化性能,需要将电子元器件放置在测试箱中进行极限环境测试,测试箱通过模拟低温和湿热环境来进行老化测试。

现有的老化测试箱在使用时,直接将电子元器件静置在测试箱中,导致电子元器件受到环境影响不均匀,从而导致电子元器件的老化测试数据准确性降低,影响测试箱测试结果的准确度。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中测试箱内的电子元器件受环境影响不够均匀的问题,而提出的一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱。

为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:

一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱,包括箱体,所述箱体左侧的内壁固定连接有喷淋管,所述喷淋管的管壁固定连通有导水管,所述箱体的外壁固定连接有固定板,所述固定板上侧的侧壁固定连接有泵机,所述泵机的出水口与导水管固定连通,所述泵机的进水口固定连通有抽水管,所述箱体右侧的侧壁固定连接有电热丝,所述箱体上侧的侧壁设置有箱盖,所述箱盖下侧的侧壁固定连接有制冷管,所述箱体下侧的侧壁开设有排污孔,所述箱体底部的内壁固定连接有U型板,所述U型板上侧的侧壁开设有轴孔,所述轴孔的孔壁通过轴承转动连接有转轴,所述转轴的两端均伸出轴孔,所述转轴上侧的侧壁固定连接有载物板,所述载物板上侧的侧壁固定连接有竖杆,所述竖杆的杆壁活动套设有压板,所述压板上侧的侧壁开设有滑动孔,所述竖杆通过滑动孔贯穿压板,所述竖杆的上端固定连接有挡板,所述挡板与压板之间设置有压缩弹簧,所述压缩弹簧活动套设于竖杆外,所述U型板右侧的侧壁固定连接有马达,所述马达的输出轴固定套设有主动齿轮,所述转轴的轴壁固定套设有与主动齿轮相啮合的从动齿轮,所述主动齿轮的直径小于从动齿轮的直径,所述U型板的水平侧壁固定连接有套筒,所述套筒活动套设于转轴外,所述套筒的内壁固定连接有阻尼胶圈,所述阻尼胶圈的内壁与转轴紧密贴合。

优选的,所述箱体下表面的四角处均固定连接有脚柱,所述箱体的下方设置有集污箱。

优选的,所述箱盖上侧的侧壁对称固定连接有两个把手。

优选的,所述载物板上侧的侧壁固定连接有卡杆,所述压板下侧的侧壁开设有卡孔,所述卡杆的上端通过卡孔贯穿压板。

优选的,所述电热丝外套设有陶瓷管。

优选的,所述载物板上侧的侧壁开设有放置槽。

与现有技术相比,本实用新型提供了一种用于电子元器件的低温湿热老化测试箱,具备以下有益效果:

该用于电子元器件的低温湿热老化测试箱,通过设置的箱体、喷淋管、导水管、固定板、泵机、抽水管、电热丝、箱盖、制冷管、排污孔、U型板、轴孔、转轴、载物板、竖杆、压板、滑动孔、挡板、压缩弹簧、马达、主动齿轮、从动齿轮、套筒和阻尼胶圈,使用时,向上拉动压板,将电子元器件放置在载物板上,松开压板,在压缩弹簧的作用下,压板向下移动,压板能够对电子元器件进行固定,控制马达运行,马达的输出轴带动主动齿轮转动,主动齿轮带动从动齿轮转动,由于主动齿轮的直径较小,所以从动齿轮转速较慢,能够带动载物板缓慢转动,且阻尼胶圈能够增加转轴转动的阻力,从而能够使电子元器件慢速转动,使电子元器件能够均匀受到箱体内环境的影响,有效的提高了测试结果的准确度。

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